一种摄像头的遮挡检测方法、装置、存储介质和电子设备.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN112351271A(43)申请公布日2021.02.09(21)申请号202011005981.0(22)申请日2020.09.22(71)申请人北京迈格威科技有限公司地址100086北京市海淀区科学院南路2号融科资讯中心A座316-318(72)发明人胡刚(74)专利代理机构北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)11463代理人何少岩(51)Int.Cl.H04N17/00(2006.01)G06T7/00(2017.01)G06T7/11(2017.01)权利要求书3页说明书13页附图4页(54)发明名称一种摄像头的遮挡检测方法、装置、存储介质和电子设备(57)摘要本申请实施例提供一种摄像头的遮挡检测方法、装置、存储介质和电子设备，该遮挡检测方法包括：获取第一摄像头拍摄的第一图像和第二摄像头拍摄的第二图像；从第一图像中选取至少一个指定区域；根据至少一个指定区域，从第二图像中确定至少一个对比区域，其中，至少一个对比区域和至少一个指定区域一一对应；分别计算至少一个指定区域中每个指定区域对应的第一特征值和至少一个对比区域中每个对比区域对应的第二特征值；根据第一特征值和第二特征值，确定第二摄像头是否被遮挡。借助于上述技术方案，提高了检测的准确率。CN112351271ACN112351271A权利要求书1/3页1.一种摄像头的遮挡检测方法，其特征在于，所述摄像头包括第一摄像头和第二摄像头，所述遮挡检测方法包括：获取所述第一摄像头拍摄的第一图像和所述第二摄像头拍摄的第二图像；从所述第一图像中选取至少一个指定区域；根据所述至少一个指定区域，从所述第二图像中确定至少一个对比区域，其中，所述至少一个对比区域和所述至少一个指定区域一一对应；分别计算所述至少一个指定区域中每个所述指定区域对应的第一特征值和所述至少一个对比区域中每个所述对比区域对应的第二特征值；根据所述第一特征值和所述第二特征值，确定所述第二摄像头是否被遮挡。2.根据权利要求1所述的遮挡检测方法，其特征在于，每个所述指定区域为所述第一图像的边缘区域中的至少部分区域。3.根据权利要求2所述的遮挡检测方法，其特征在于，所述从所述第一图像中选取至少一个指定区域，包括：从所述第一图像的边缘区域划分的多个单元格中选取至少一个单元格作为至少一个指定区域。4.根据权利要求1所述的遮挡检测方法，其特征在于，所述根据所述至少一个指定区域，从所述第二图像中确定至少一个对比区域，包括：获取所述第一图像和所述第二图像间的平移量；根据所述平移量和每个所述指定区域的参数，从所述第二图像中确定每个所述对比区域。5.根据权利要求4所述的遮挡检测方法，其特征在于，所述获取所述第一图像和所述第二图像间的平移量，包括：分别获取所述第一图像的第一中心区域和所述第二图像的第二中心区域；从所述第二图像中确定与所述第一中心区域对应的目标区域；确定所述目标区域的中心坐标和所述第二中心区域的中心坐标间的差值；将所述差值作为所述第一图像和所述第二图像间的平移量。6.根据权利要求4所述的遮挡检测方法，其特征在于，每个所述指定区域的参数均包括每个所述指定区域的起点坐标和尺寸，所述根据所述平移量和每个所述指定区域的参数，从所述第二图像中确定每个所述对比区域，包括：根据所述平移量和每个所述指定区域的起点坐标，确定每个所述对比区域的起点坐标；根据每个所述指定区域的尺寸，确定每个所述对比区域的尺寸；根据每个所述对比区域的起点坐标和每个所述对比区域的尺寸，从所述第二图像中确定每个所述对比区域。7.根据权利要求6所述的遮挡检测方法，其特征在于，所述根据所述平移量和每个所述指定区域的起点坐标，确定每个所述对比区域的起点坐标，包括根据第一公式计算每个所述对比区域的起点坐标，所述第一公式为：2CN112351271A权利要求书2/3页其中，Ps(x,y)为当前对比区域的起点坐标，f2为所述第二摄像头的焦距，f1为所述第一摄像头的焦距，Pm(x,y)为与所述当前对比区域对应的指定区域的起点坐标，C(x,y)为所述第一图像的中心坐标，t(x,y)为所述平移量。8.根据权利要求6所述的遮挡检测方法，其特征在于，所述根据每个所述指定区域的尺寸，确定每个所述对比区域的尺寸，包括根据第二公式计算每个所述对比区域的尺寸，所述第二公式为：其中，Qs为当前对比区域的尺寸，f2为所述第二摄像头的焦距，f1为所述第一摄像头的焦距，Qm为与所述当前对比区域对应的指定区域的尺寸。9.根据权利要求1至8任一项所述的遮挡检测方法，其特征在于，在根据所述第一特征值和所述第二特征值，确定所述第二摄像头是否被遮挡之前，所述遮挡检测方法还包括：确定所述第一图像的图像均值大于第一预设图像均值且小于第二预设图