一种芯片温度管理方法及装置.pdf
是丹****ni
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一种芯片温度管理方法及装置.pdf
本发明公开了一种芯片温度管理方法及装置,所述方法包括:预设外界温度、芯片温度和芯片频率限制值之间的调节关系;分别检测外界温度和芯片温度;根据检测到的所述外界温度和芯片温度,以及所述预设的外界温度、芯片温度和芯片频率限制值之间的调节关系,对芯片进行限频操作。根据本发明实施方式的芯片温度管理方法,结合外界温度与芯片温度来控制芯片频率,可以在温升与性能之间取一个折中,使得芯片在温度和性能的均衡中更智能化。
芯片的温度场分布检测方法及装置、介质、芯片.pdf
本申请公开了一种芯片的温度场分布检测方法及装置、介质、芯片,该方法首先获取多个关键节点各自的工作温度目标值,然后控制所有的功耗模拟单元依次按对应的关键节点的工作温度目标值进行功耗模拟,以使测温单元感测功耗模拟单元传导过来的温度,然后依据感测到的温度以及每个功耗模拟单元与测温单元之间的位置关系,生成各功耗模拟单元的位置‑温度关系曲线,最后依据位置‑温度关系曲线生成芯片待测区域的温度场分布情况,由此能够基于芯片的工作特点来动态定位封装后芯片的温度场分布,通过内置的测温电路和功耗模拟电路作为温度场分布检测的硬件
温度测量方法、芯片温度检测方法、装置、设备及车辆.pdf
本发明提供一种温度测量方法、芯片温度检测方法、装置、设备及车辆,所述方法包括:确定所述芯片的散热路径,散热路径中包括多个散热节点,每个散热节点配置热容和至少一个热阻;基于散热路径,构建每个散热节点的传热学等式;基于各个传热学等式,构建测温模型;测温模型中各个传热学等式中包括待调整的热容参数和热阻参数;基于工况参数样本,训练测温模型,直到测温模型的输出结果满足目标条件,得到目标测温模型;其中,在每一次训练时,根据测温模型输出的各个散热节点的温度变化和芯片的实际温度变化,对待调整的热容参数和热阻参数进行调整;
一种温度采集单元芯片及温度采集系统.pdf
本发明公开了一种温度采集单元芯片及温度采集系统,温度采集单元芯片包括温度传感器、控制器、时钟、存储器、异步收发器及NMOS管,所述温度传感器、时钟、存储器及异步收发器均与控制器连接,NMOS管的栅极与异步收发器的发送端连接,NMOS管的漏极连接数据引脚,NMOS管的源极接地;控制器的电源接口与电源引脚连接。温度采集系统包括一个或多个温度采集单元及MCU,其连接关系可以是多种。本发明温度采集结果异步串行输出,适用于不同场所,局限性小,通用性强,使用更加方便;系统的结构更加简单,引脚使用更少,芯片体积更小,系
一种芯片制造设备管理方法、装置、电子设备和存储介质.pdf
本申请提供了一种芯片制造设备管理方法、装置、电子设备和存储介质,该方法包括:针对目标区域中的每个炉管设备,通过炉管设备的加热均匀度结果、测试片的加工测试结果和出厂参数,确定炉管设备的加工精度,并标记加工精度标签;当检测到第一炉管设备中设置有第一规则时,确定与第一炉管设备具有相同设备能力的第二炉管设备,并确定出与第一规则要求的加工精度标签相同的目标第二炉管设备;根据目标第二炉管设备的加工精度确定目标第二炉管设备的优先同步顺序;按照优先同步顺序,将第一规则同步到目标第二炉管设备中。本申请实施例通过上述方法,能