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(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN111900071A(43)申请公布日2020.11.06(21)申请号202010690900.9(22)申请日2020.07.17(71)申请人上海富乐德智能科技发展有限公司地址200444上海市宝山区山连路181号10幢(72)发明人汤高贺贤汉杨炜王云鹏蒋立峰(74)专利代理机构上海申浩律师事务所31280代理人陆叶(51)Int.Cl.H01J37/32(2006.01)B08B3/12(2006.01)B08B3/08(2006.01)B08B3/10(2006.01)B08B7/00(2006.01)权利要求书1页说明书3页附图1页(54)发明名称半导体设备蚀刻装置硅电极部件的再生方法(57)摘要本发明涉及半导体技术领域。半导体设备蚀刻装置硅电极部件的再生方法,包括如下步骤:步骤(1),干冰喷砂;步骤(2),热水浸泡;步骤(3),有机溶液浸泡,纯水冲洗去除残留药液;有机溶剂为选自乙醇、异丙醇、丙酮中的至少一种;步骤(4),混合酸溶液刻蚀,纯水冲洗去除残留药液;步骤(5),碱溶液刻蚀,纯水冲洗;步骤(6),超声波清洗。通过该方法,快速去除硅电极表面的沉积膜层,去除沉积膜层后裸露的硅基材经受刻蚀时间达到一致,并且硅基材经受刻蚀时间大大缩短,避免了硅基材表面受到不均匀刻蚀而产生不平整或粗糙现象,实现硅电极的再生利用。CN111900071ACN111900071A权利要求书1/1页1.半导体设备蚀刻装置硅电极部件的再生方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤(1),干冰喷砂,去除表面的残留物或沉积物;步骤(2),热水浸泡,通过润湿硅电极表面附着物,去除或者疏松附着在表面的金属化有机物;步骤(3),有机溶液浸泡,去除或者疏松附着在表面的金属化有机物;纯水冲洗去除残留药液;步骤(4),混合酸溶液刻蚀,氧化并刻蚀硅电极表面的沉积膜;纯水冲洗去除残留药液;步骤(5),碱溶液刻蚀,微刻蚀硅电极表面的沉积膜;纯水冲洗去除残留药液;步骤(6),超声波清洗,超纯水冲洗并干燥。2.根据权利要求1所述的半导体设备蚀刻装置硅电极部件的再生方法,其特征在于:步骤(1)中,将硅电极进行干冰微粒喷射冲洗,所采用的气压力为0.3-0.9Mpa,出冰量为0.1-1kg/min,持续喷射10-30分钟。3.根据权利要求1所述的半导体设备蚀刻装置硅电极部件的再生方法,其特征在于:步骤(2)中,将硅电极放入热水槽,热水温度65-85℃,热水浸泡时间15-40分钟。4.根据权利要求1所述的半导体设备蚀刻装置硅电极部件的再生方法,其特征在于:步骤(3)中,将硅电极放入有机溶剂槽,溶液温度20-38℃,浸泡时间15-40分钟,纯水冲洗去除残留药液;有机溶剂为选自乙醇、异丙醇、丙酮中的至少一种。5.根据权利要求1所述的半导体设备蚀刻装置硅电极部件的再生方法,其特征在于:步骤(4)中,将硅电极放入混合酸槽,溶液温度20-38℃,浸泡时间10-150秒,纯水冲洗去除残留药液。6.根据权利要求1所述的半导体设备蚀刻装置硅电极部件的再生方法,其特征在于:步骤(4)中,混合酸槽的每种原料的体积百分比分别为:硝酸20%-35%、氢氟酸10%-50%、醋酸30%-60%;所述硝酸浓度为69%,所述氢氟酸浓度为49%,所述醋酸浓度为99.8%。7.根据权利要求1所述的半导体设备蚀刻装置硅电极部件的再生方法,其特征在于:步骤(5)中,将硅电极放入碱溶液槽,溶液温度20-38℃,浸泡时间20-60秒,纯水冲洗去除残留药液。8.根据权利要求1所述的半导体设备蚀刻装置硅电极部件的再生方法,其特征在于:步骤(5)中碱溶液的每种原料的重量百分比分别为:氢氧化钾0.1-3%,其余为纯水;纯水为电阻率大于6MΩ的去离子水。9.根据权利要求1所述的半导体设备蚀刻装置硅电极部件的再生方法,其特征在于:步骤(6)中,将硅电极进行超声波清洗,超声波槽中超纯水温度20-50℃,超声波频率为40-80KHz,超声波清洗时间为10-30min,而后超纯水冲洗并用0.1微米的过滤氮气吹干。10.根据权利要求1所述的半导体设备蚀刻装置硅电极部件的再生方法,其特征在于:所述步骤(6)中,超纯水为电阻率大于18MΩ的去离子水。2CN111900071A说明书1/3页半导体设备蚀刻装置硅电极部件的再生方法技术领域[0001]本发明涉及半导体技术领域,具体是清洗方法。背景技术[0002]在半导体器件的制造工艺中,等离子蚀刻装置用于对晶圆的表面进行蚀刻处理。上述等离子蚀刻装置的反应室内部使用由单晶硅或多晶硅构成的硅电极板。由于设备结构和硅片尺寸的差异,硅电极的结构会有不同类别,统称为硅电极。[0003]等离子体蚀刻过程中,上述硅电极板的表面接触到电浆和