塞尺片厚度测量方法的选择.docx
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塞尺片厚度测量方法的选择.docx
塞尺片厚度测量方法的选择现代加工制造工程要求高精度的加工技术,其中对于物料尺寸的控制要求尤为谨慎。在进行制造工艺过程中,经常要对物料的厚度进行测量,而塞尺片是一种可以测量物料厚度的常用量具。因为厚度测量的准确性直接关系到制造品质,因此对于塞尺片厚度测量方法的选择十分重要。此论文将从以下几个方面探讨测量方法的选择:一、塞尺片的测量原理塞尺片是一种可以测量一定范围的对象厚度的量具。它的原理是利用了量具本身的厚度尺寸,将其插入被测物料内,然后读取塞尺片上的刻度,即可得到物料的厚度尺寸。因此,塞尺片的测量精度和其
长尺寸片材的厚度测量方法以及厚度测量系统.pdf
本发明提供一种长尺寸片材的厚度测量方法以及厚度测量系统,通过将流动方向分量和宽度方向分量分离的方式来测量纸的厚度,不需要以往的使用放射线的基重仪,采用非扫描、非过滤方式,也能够应用于小型的抄纸机,并且经济效益高。本发明的长尺寸片材的厚度测量方法为对于一边被按压于卷筒(12)一边被卷绕于卷轴(16)的长尺寸片材(W)测量其厚度的厚度测量方法,在非接触的状态下测量长尺寸片材(W)所形成的卷绕辊(R)的辊径的增加量,同时,测量卷轴(16)的旋转次数,通过使用所测量的辊径的增加量和旋转次数的运算,求得长尺寸片材的
厚度测量装置及厚度测量方法.pdf
本发明提供一种能够准确地测量试样厚度的厚度测量装置及厚度测量方法。厚度测量装置具有:第一透光构件,其具有第一参照面;第二透光构件,其与第一透光构件相向设置,具有第二参照面;第一投光部,其经由第一参照面向设置在第一透光构件和第二透光构件之间的试样照射来自光源的光;第一受光部,其接收来自第一参照面的反射光,并且经由第一参照面接收来自试样的反射光;第二投光部,其经由第二参照面向试样照射来自光源的光;第二受光部,其接收来自第二参照面的反射光,并且经由第二参照面接收来自受光试样的反射光;分光部,其对由第一受光部接收
厚度测量系统以及厚度测量方法.pdf
本发明提供一种厚度测量系统及厚度测量方法,将以厚度测定装置的一对激光距离计的支撑点之间的距离因温度变化而变动为起因的测定误差的影响除去,且不需要用于安全管理的特别措施,能够连续地进行测定。厚度测定装置(1、2)以预定的间隔(Ld)设定,在第1厚度测定装置(1)通过厚度基准板(5c)执行厚度校正处理,放置在移动方向的下游侧的第2测定装置(2)执行测定处理中,动作模式设定部(3)在第1厚度测定装置(1)设定“测定”,再有,向第2厚度测定装置(2)指令“厚度修正”处理开始,使第1厚度测定值(1)在移动方向上延迟
胎面厚度测量方法.pdf
提供一种胎面厚度测量方法,其不管带束材料如何都能够用超声波测量以良好的精度测量从位于轮胎最外侧部分的带束表面到胎面表面的胎面厚度,胎面厚度测量方法包括:测量胎面表面外形形状的形状测量步骤;从通过形状测量步骤获得的外形形状识别沿轮胎周向延伸的槽的槽底的槽底位置识别步骤;基于由槽底识别步骤识别的槽底和预创建的轮胎设计数据推定从槽底到带束表面的深度的深度推定步骤;基于从槽底位置识别步骤所识别的槽底到外形形状中的胎面表面的厚度与由深度推定步骤推定的从槽底到带束表面的深度之间的关系计算从胎面表面到带束表面的预测厚度