厚度测量系统以及厚度测量方法.pdf
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厚度测量系统以及厚度测量方法.pdf
本发明提供一种厚度测量系统及厚度测量方法,将以厚度测定装置的一对激光距离计的支撑点之间的距离因温度变化而变动为起因的测定误差的影响除去,且不需要用于安全管理的特别措施,能够连续地进行测定。厚度测定装置(1、2)以预定的间隔(Ld)设定,在第1厚度测定装置(1)通过厚度基准板(5c)执行厚度校正处理,放置在移动方向的下游侧的第2测定装置(2)执行测定处理中,动作模式设定部(3)在第1厚度测定装置(1)设定“测定”,再有,向第2厚度测定装置(2)指令“厚度修正”处理开始,使第1厚度测定值(1)在移动方向上延迟
长尺寸片材的厚度测量方法以及厚度测量系统.pdf
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厚度测量装置及厚度测量方法.pdf
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膜层厚度测量方法及膜层厚度测量装置.pdf
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一种厚度测量方法和系统.pdf
本申请实施例公开了一种厚度测量方法和系统,所述方法包括:获取透射电子显微镜输出的校准样品的TEM图像;根据校准样品的TEM图像的灰度值得到校准样品的吸收率;通过预设测量方法测量所述校准样品的厚度;根据所述校准样品的吸收率和厚度获得吸收率‑厚度关系曲线;获取待测样品的吸收率;根据吸收率‑厚度关系曲线和所述待测样品的吸收率,计算得到所述待测样品的厚度。