一种芯片外观检测装置.pdf
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一种芯片外观检测装置.pdf
本发明提供一种芯片外观检测装置。所述芯片外观检测装置包括:底板,固定座,固定座的底部固定于所述底板的顶部的左侧;支撑框,支撑框的底部固定于所述固定座的顶部;升降机构,升降机构设置于所述支撑框上,升降机构包括螺纹杆、螺纹筒、传动齿轮、转动齿轮和两个滑动块,螺纹杆的一端转动于所述支撑框的内壁的一侧,螺纹筒的内部螺纹于所述螺纹杆的表面,螺纹筒的一侧贯穿所述支撑框且延伸至所述支撑框的外部。本发明提供的芯片外观检测装置,可根据实际使用情况调节摄像头的使用角度,满足不同的环境使用,同时能够使摄像头在工作时保持稳定,且
一种用于半导体芯片外观快速检测的装置.pdf
本实用新型公开了一种用于半导体芯片外观快速检测的装置,包括:用于与检验设备相对固定的底座,以及与所述底座活动配置的载台;所述载台上形成有与所述底座配合的第一凸缘和第二凸缘,所述第一凸缘和第二凸缘能够沿各自的径向方向约束扩晶环,且所述第一凸缘的外径大于所述第二凸缘的外径。本实用新型实施例提供的一种用于半导体芯片外观快速检测的装置,本实用新型实施例提供的一种用于半导体芯片外观快速检测的装置,能够在检测时约束不同规格的扩晶环,以便于使用扩晶环观察检测不同规格的芯片。
一种芯片外观检测机构.pdf
本发明公开了一种芯片外观检测机构,涉及芯片外观检测技术领域,包括测试平台以及设置在所述测试平台上的斜槽底座和测试座本体,所述斜槽底座的底部内壁上设有安装槽,所述安装槽的内壁连接有辅助调节机构,所述辅助调节机构上分别连接有一个安装块和两个支撑杆,所述安装块的顶部外壁上设有连接块。本发明公开的芯片外观检测机构,利用垂直照射形成的阴影成像来对芯片针脚进行检测,效果更加全面充分,同时,有效规范了CPU针脚的歪斜限度,降低了CPU的故障率。
一种外观检测装置.pdf
本发明公开了一种外观检测装置,包括立柱、枢接在立柱顶部的转轴、安装在转轴一端的转盘,转盘设有内凹槽;立柱上铰接有制动块,制动块与制动驱动机构连接,制动驱动机构安装在立柱上,位于制动块的下方;在制动驱动机构的驱动下,制动块能够与转盘内凹槽的内侧壁、转轴接触。按上述设计,汽车零部件定位在转轴上,检测人员转动转盘,即可转动转轴,对零部件进行360度的外观检查。利用制动块与转盘内凹槽的内侧壁、转轴之间的摩擦力制动转轴,使转轴停留在任一位置,在该位置,一个检测人员即可方便地对零部件的重点部位进行仔细的检查。
一种外观检测装置及检测方法.pdf
本发明提供一种外观检测装置及检测方法,装置包括机台本体,机台本体内设有检测台、支撑架、导轨组件、导轨固定单元、载具、导向组件和外观检测单元;支撑架罩设于检测台的外围;检测台的台面包括沿第一方向延伸的检测区域,检测区域至少包括一个检测工位;导轨组件设置在检测区域上,并且导轨组件沿第一方向可运动;载具设置于导轨组件上,并用于容置镜头模组;导轨固定单元设置于检测台上,用于固定导轨组件以使载具停在检测工位处;导向组件设置于支撑架上,外观检测单元设置于导向组件上,导向组件用于带动外观检测单元运动,外观检测单元用于对