一种芯片外观检测机构.pdf

(19)国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN115684015A(43)申请公布日2023.02.03(21)申请号202211357862.0(22)申请日2022.11.01(71)申请人江苏芯缘半导体有限公司地址213000江苏省常州市天宁区黑牡丹科技园41幢(72)发明人殷国海(74)专利代理机构苏州途正专利代理有限公司32559专利代理师王康(51)Int.Cl.G01N21/01(2006.01)G01N21/88(2006.01)G01N21/95(2006.01)G01N33/00(2006.01)权利要求书2页说明书6页附图7页(54)发明名称一种芯片外观检测机构(57)摘要本发明公开了一种芯片外观检测机构，涉及芯片外观检测技术领域，包括测试平台以及设置在所述测试平台上的斜槽底座和测试座本体，所述斜槽底座的底部内壁上设有安装槽，所述安装槽的内壁连接有辅助调节机构，所述辅助调节机构上分别连接有一个安装块和两个支撑杆，所述安装块的顶部外壁上设有连接块。本发明公开的芯片外观检测机构，利用垂直照射形成的阴影成像来对芯片针脚进行检测，效果更加全面充分，同时，有效规范了CPU针脚的歪斜限度，降低了CPU的故障率。CN115684015ACN115684015A权利要求书1/2页1.一种芯片外观检测机构，包括测试平台(1)以及设置在所述测试平台(1)上的斜槽底座(3)和测试座本体(8)，其特征在于，所述斜槽底座(3)的底部内壁上设有安装槽，所述安装槽的内壁设有螺纹杆(12)，所述螺纹杆(12)上连接有辅助调节机构，所述辅助调节机构上分别连接有一个安装块(14)和两个支撑杆(4)，所述安装块(14)的顶部外壁上设有连接块(20)，两个所述支撑杆(4)的顶端均设有限制块(17)，两个所述限制块(17)的相对一侧外壁上安装有同一个调节架(18)，所述调节架(18)的内壁上滑动连接有滑环(27)，所述滑环(27)的圆周内壁上设有等距离分布的固定机构，所述滑环(27)的圆周外壁上设有等距离分布的齿槽(28)，所述连接块(20)的顶部外壁上设有固定槽，所述固定槽的底部内壁上通过轴承连接有主动齿轮(32)，所述主动齿轮(32)与所述滑环(27)外壁的所述齿槽(28)相啮合，所述安装块(14)的内壁上通过轴承连接有微调螺杆(23)，所述微调螺杆(23)的外壁上设有第一螺纹套块(24)，所述第一螺纹套块(24)的一侧外壁上设有灯管(15)，所述测试平台(1)的一侧外壁上设有侧板(5)，所述侧板(5)靠近所述调节架(18)的一侧外壁上设有背景板(33)，所述灯管(15)的灯光朝向所述背景板(33)一侧。2.根据权利要求1所述的一种芯片外观检测机构，其特征在于，所述调节架(18)分别与所述背景板(33)和所述安装块(14)呈垂直分布，且所述调节架(18)位于所述背景板(33)与所述安装块(14)之间。3.根据权利要求1所述的一种芯片外观检测机构，其特征在于，所述斜槽底座(3)的倾斜角度在5°‑8°范围内。4.根据权利要求3所述的一种芯片外观检测机构，其特征在于，所述斜槽底座(3)的两侧内壁上均设有滑槽，两个所述支撑杆(4)的底端均设有侧滑块(11)，两个所述侧滑块(11)分别滑动连接在两个所述滑槽的内壁上。5.根据权利要求1所述的一种芯片外观检测机构，其特征在于，所述辅助调节机构包括：安装在所述螺纹杆(12)外壁的第二螺纹套块，所述第二螺纹套块的顶部外壁上设有安装杆(34)，所述安装杆(34)的顶端设有固定台(21)，所述固定台(21)的一侧外壁上设有两个连接杆(13)，所述测试平台(1)的一侧外壁上设有微型马达(6)，所述微型马达(6)的输出轴与所述螺纹杆(12)的一端相连，两个所述连接杆(13)的一端分别与两个所述支撑杆(4)的一侧外壁相连，所述固定台(21)位于所述安装杆(34)的顶端。6.根据权利要求5所述的一种芯片外观检测机构，其特征在于，所述固定机构包括：对称安装在所述滑环(27)圆周内壁的四个内凸台(29)，所述内凸台(29)的一侧内壁上均设有等距离分布的第一复位弹簧(30)，若干个所述第一复位弹簧(30)的一端安装有同一个支撑垫(31)，所述支撑垫(31)远离所述第一复位弹簧(30)的一侧外壁设置为垂直折角结构，四个所述支撑垫(31)配合使用。7.根据权利要求5所述的一种芯片外观检测机构，其特征在于，所述主动齿轮(32)上连接有第一微调旋钮(16)，所述固定台(21)的一侧外壁上设有第二微调旋钮(22)，且所述第二微调旋钮(22)的一端连接有第一锥齿轮(25)，所述微调螺杆(23)的底端设有第二锥齿轮(26)，所述第一锥齿轮(25)和所述第二锥齿轮(26)相啮合。8.根据权利要求1所述的一种芯片外观检测机构，