阈值电压侦测方法、侦测装置及显示装置.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN114203080A(43)申请公布日2022.03.18(21)申请号202111555328.6(22)申请日2021.12.17(71)申请人深圳市华星光电半导体显示技术有限公司地址518132广东省深圳市光明新区公明街道塘明大道9-2号(72)发明人窦维(74)专利代理机构深圳紫藤知识产权代理有限公司44570代理人王芳芳(51)Int.Cl.G09G3/00(2006.01)G09G3/3208(2016.01)G09G3/3233(2016.01)G09G3/3258(2016.01)权利要求书2页说明书9页附图3页(54)发明名称阈值电压侦测方法、侦测装置及显示装置(57)摘要本申请提供的阈值电压侦测方法，通过新的侦测时序，实现在侦测过程中流过驱动晶体管的驱动电流恒定，然后通过迭代的方式，让驱动晶体管的漏极的电压经过多次迭代后，在侦测时间内均抬升至预设电压，从而得到目标阈值电压；这种方式下流过驱动晶体管的驱动电流不会像传统源跟随侦测方法一样随时间减小，并且电流大小可以通过侦测时间、预设电压来控制，所以在侦测中向侦测线路充电速度可以很快，进而提升驱动晶体管的目标阈值电压侦测效率，提升用户使用体验。CN114203080ACN114203080A权利要求书1/2页1.一种阈值电压侦测方法，其特征在于，包括：步骤S1、提供像素，所述像素包括驱动晶体管、第一晶体管、第二晶体管、电容及发光元件；所述驱动晶体管的栅极与第一节点电连接，所述驱动晶体管的源极与漏极中的一者与第一电源电连接，所述驱动晶体管的源极与漏极中的另一者与第二节点电连接；所述第一晶体管的栅极与扫描线电连接，所述第一晶体管的源极与漏极中的一者与数据线电连接，所述第一晶体管的源极与漏极中的另一者与所述第一节点电连接；所述第二晶体管的栅极与控制线电连接，所述第二晶体管的源极与漏极中的一者与所述第二节点电连接，所述第二晶体管的源极与漏极中的另一者与采样线电连接；所述电容的第一端与所述第一节点电连接，所述电容的第二端与所述第二节点电连接；步骤S2、初始化所述第一节点的电压，以使得所述驱动晶体管导通；步骤S3、维持流经所述驱动晶体管的驱动电流不变，且间隔预设时间段后，对所述第二节点的电压进行侦测；步骤S4、根据所述第二节点的电压以及预设电压得到初始阈值电压；步骤S5、将所述第二节点的电压与预设电压进行比较，若所述第二节点的电压等于所述预设电压，则根据所述初始阈值电压得到目标阈值电压。2.根据权利要求1所述的阈值电压侦测方法，其特征在于，所述阈值电压侦测方法还包括：若所述第二节点的电压不等于所述预设电压，则返回步骤S2。3.根据权利要求2所述的阈值电压侦测方法，其特征在于，所述步骤S2具体包括：所述扫描线供应扫描信号，使得所述第一晶体管导通，所述数据线供应初始栅极电压至所述第一节点；其中，Vdatan＝Vdatan‑1+Vthn‑1，n表示初始化的次数，Vdatan表示第n次初始化所述第一节点时的初始栅极电压，Vdatan‑1表示第n‑1次初始化所述第一节点时的初始栅极电压，Vthn‑1表示对所述第二节点的电压进行第n‑1次侦测时的初始阈值电压，n为大于1的整数。4.根据权利要求3所述的阈值电压侦测方法，其特征在于，当第1次初始化所述第一节点时，所述步骤S2具体包括：所述扫描线供应扫描信号，使得所述第一晶体管导通，所述数据线供应预设栅极电压至所述第一节点；所述控制线供应侦测控制信号，使得所述第二晶体管导通，所述采样线供应预设漏极电压至所述第二节点。5.根据权利要求4所述的阈值电压侦测方法，其特征在于，所述预设电压大于所述预设漏极电压，且所述预设栅极电压与所述预设漏极电压之间的差值大于所述驱动晶体管的阈值电压。6.根据权利要求2所述的阈值电压侦测方法，其特征在于，所述步骤S3具体包括：控制所述第一晶体管截止，控制所述第二晶体管导通，控制所述采样线处于浮空状态，以维持流经所述驱动晶体管的驱动电流不变；间隔预设时间段，通过所述采样线对所述第二节点的电压进行侦测。7.根据权利要求2所述的阈值电压侦测方法，其特征在于，所述步骤S4具体包括：计算得到初始阈值电压Vthn＝(Vtrg‑Vsn)*k，其中，Vtrg为所述预设电压，Vsn表示对所述第二节点进行第n次侦测时的第二节点的电压，Vthn表示对所述第二节点的电压进行第n次侦测时的初始阈值电压，k为常数，n为大于0的整数。8.根据权利要求7所述的阈值电压侦测方法，其特征在于，所述k的值介于0至1之间。2CN114203080A权利要求书2/2页9.根据权利要求2所述的阈值电压侦测方法，其特征在于，所述若所述第二节点的电压等于所述预设电压，则根据所述初始阈值