侦测装置及侦测方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN105988107A(43)申请公布日2016.10.05(21)申请号201510093681.5(22)申请日2015.03.03(30)优先权数据14/555,9902014.11.28US(71)申请人宏达国际电子股份有限公司地址中国台湾桃园市(72)发明人浦大钧吴俊熠郭彦良(74)专利代理机构北京市柳沈律师事务所11105代理人陈小雯(51)Int.Cl.G01S13/02(2006.01)G01S13/06(2006.01)G01S13/08(2006.01)权利要求书2页说明书6页附图6页(54)发明名称侦测装置及侦测方法(57)摘要本发明公开一种侦测装置及侦测方法，该侦测装置适用于侦测一待测物，包括：一收发器、一第一天线元件，以及一第二天线元件。该收发器具有一发射端口和一接收端口。该第一天线元件耦接至该收发器的该发射端口。该第二天线元件耦接至该收发器的该接收端口。该收发器先通过该第一天线元件朝向该待测物发射一电磁信号，之后该收发器再通过该第二天线元件由该待测物处接收一反射信号。该电磁信号具有一第一极化方向，而该反射信号具有一第二极化方向。CN105988107ACN105988107A权利要求书1/2页1.一种侦测装置，适用于侦测一待测物，包括：第一收发器，具有第一发射端口和第一接收端口；第一天线元件，耦接至该第一发射端口；以及第二天线元件，耦接至该第一接收端口；其中该第一收发器先通过该第一天线元件朝向该待测物发射一第一电磁信号，之后该第一收发器再通过该第二天线元件由该待测物处接收一第一反射信号；其中该第一电磁信号具有一第一极化方向，而该第一反射信号具有一第二极化方向。2.如权利要求1所述的侦测装置，其中该第一极化方向与该第二极化方向恰好相反。3.如权利要求2所述的侦测装置，其中该第一极化方向和该第二极化方向两者为相反向的椭圆极化。4.如权利要求3所述的侦测装置，其中该第一天线元件以一第一入射角朝向该待测物上的一第一区域发射该第一电磁信号，而该第二天线元件以一第一反射角由该待测物上的该第一区域处接收该第一反射信号。5.如权利要求4所述的侦测装置，其中该第一电磁信号的轴比随着该第一入射角增加而明显减少，并随着该第一入射角减少而明显增加，或是其中该第一电磁信号的轴比随着该第一入射角增加而明显增加，并随着该第一入射角减少而明显减少。6.如权利要求4所述的侦测装置，其中该第一反射信号的轴比随着该第一反射角增加而明显增加，并随着该第一反射角减少而明显减少，或是其中该第一反射信号的轴比随着该第一反射角增加而明显减少，并随着该第一反射角减少而明显增加。7.如权利要求4所述的侦测装置，还包括：第二收发器，具有第二发射端口和第二接收端口，其中该第一天线元件还耦接至该第二接收端口，而该第二天线元件还耦接至该第二发射端口；其中该第二收发器先通过该第二天线元件朝向该待测物发射一第二电磁信号，之后该第二收发器再通过该第一天线元件由该待测物处接收一第二反射信号；其中该第二电磁信号具有一第三极化方向，而该第二反射信号具有一第四极化方向。8.如权利要求7所述的侦测装置，其中该第三极化方向与该第四极化方向恰好相反。9.如权利要求8所述的侦测装置，其中该第三极化方向和该第四极化方向两者为相反向的椭圆极化。10.如权利要求9所述的侦测装置，其中该第二天线元件以一第二入射角朝向该待测物上的一第二区域发射该第二电磁信号，而该第一天线元件以一第二反射角由该待测物上的该第二区域处接收该第二反射信号。11.如权利要求10所述的侦测装置，其中该第二电磁信号的轴比随着该第二入射角增加而明显减少，并随着该第二入射角减少而明显增加，或是其中该第二电磁信号的轴比随着该第二入射角增加而明显增加，并随着该第二入射角减少而明显减少。12.如权利要求10所述的侦测装置，其中该第二反射信号的轴比随着该第二反射角增加而明显增加，并随着该第二反射角减少而明显减少，或是其中该第二反射信号的轴比随着该第二反射角增加而明显减少，并随着该第二反射角减少而明显增加。13.如权利要求10所述的侦测装置，其中该第二区域异于该第一区域。14.如权利要求1所述的侦测装置，其中该第一天线元件和该第二天线元件的任一者2CN105988107A权利要求书2/2页包括：接地面；以及辐射金属片，大致平行于该接地面，并耦接至该第一发射端口或该第一接收端口。15.如权利要求14所述的侦测装置，其中该辐射金属片大致为一矩形截去二相对角落部分。16.如权利要求15所述的侦测装置，其中该辐射金属片大致呈现一六边形。17.如权利要求14所述的侦测装置，其中该辐射金属片还具有二槽孔，该二槽孔大致相对且互相平行，而该二槽孔的二开口端分别位于该辐射金