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(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利(10)授权公告号(10)授权公告号CNCN102253590102253590B(45)授权公告日2014.11.05(21)申请号201010178066.1JP11-64783A,1999.03.05,王军等.光学三维轮廓测量技术综述.《光(22)申请日2010.05.20机电信息》.2005,(第2期),(73)专利权人鸿富锦精密工业(深圳)有限公司郝煜栋等.光学投影式三维轮廓测量技术综地址518109广东省深圳市宝安区龙华镇油述.《光学技术》.1998,(第5期),松第十工业区东环二路2号李勇.相位测量轮廓术关键技术及应用研专利权人鸿海精密工业股份有限公司究.《中国博士学位论文全文数据库》.2007,(72)发明人张仁淙牛小兵.光栅投射三维轮廓测量技术的研(74)专利代理机构深圳市赛恩倍吉知识产权代究.《中国博士学位论文全文数据库》.2004,理有限公司44334审查员聂泽锋代理人谢志为(51)Int.Cl.G03B35/08(2006.01)H04N5/33(2006.01)(56)对比文件US20030067537A1,2003.04.10,CN101349551A,2009.01.21,CN101347332A,2009.01.21,CN101074869A,2007.11.21,权权利要求书1页利要求书1页说明书3页说明书3页附图3页附图3页(54)发明名称轮廓侦测装置、轮廓侦测方法及电子装置(57)摘要一种轮廓侦测装置,其包括:显示面板,其用来显示所述目标物体的轮廓;第一投影模组,其位于所述显示面板的一角,用来将第一红外光以竖条纹状投影到所述目标物体上;第二投影模组,其位于所述显示面板的与所述第一投影模组相邻的一角,用来将第二红外光以横条纹状投影到所述目标物体上;红外取像模组,其用来接收被所述目标物体反射的第一红外光和第二红外光并成像;取像模组,其取得所述目标物体的影像;数据处理单元,其接收所述红外取像模组和所述取像模组输入的影像资料并将影像资料进行合成以得到所述目标物体的轮廓。本发明还涉及一种轮廓侦测方法及电子装置。CN102253590BCN102539BCN102253590B权利要求书1/1页1.一种轮廓侦测装置,其用来侦测目标物体的轮廓,所述轮廓侦测装置包括:显示面板,其用来显示所述目标物体的轮廓;第一投影模组,其位于所述显示面板的一侧,用来将第一红外光以竖条纹状投影到所述目标物体上;第二投影模组,其位于所述显示面板的另一侧,用来将第二红外光以横条纹状投影到所述目标物体上;红外取像模组,其用来接收被所述目标物体反射的第一红外光和第二红外光并成像;取像模组,其取得所述目标物体的影像;数据处理单元,其接收所述红外取像模组和所述取像模组输入的影像资料并将影像资料进行合成以得到所述目标物体的轮廓。2.如权利要求1所述的轮廓侦测装置,其特征在于,所述第一投影模组包括第一红外光源、第一计算机全息图和第一投影镜头,所述第一红外光源发出的所述第一红外光经所述第一计算机全息图后形成竖条纹状分布,再经所述第一投影镜头投射到所述目标物体上。3.如权利要求2所述的轮廓侦测装置,其特征在于,所述第二投影模组包括第二红外光源、第二计算机全息图和第二投影镜头,所述第二红外光源发出的所述第二红外光经所述第二计算机全息图后形成横条纹状分布,再经所述第二投影镜头投射到所述目标物体上。4.如权利要求3所述的轮廓侦测装置,其特征在于:所述第一红外光的波长等于第二红外光的波长。5.如权利要求2所述的轮廓侦测装置,其特征在于:所述第一红外光源为红外光发光二极管或者红外光镭射二极管。6.如权利要求3所述的轮廓侦测装置,其特征在于,所述第二红外光源为红外光发光二极管或者红外光镭射二极管。7.一种轮廓侦测方法,其用来侦测目标物体的轮廓,所述轮廓侦测方法包括如下步骤:采用一取像模组取得所述目标物体的影像;采用一第一投影模组和一第二投影模组分别将第一红外光和第二红外光以竖条纹状和横条纹状投射到所述目标物体;采用一红外取像模组接收被所述目标物体反射的所述第一红外光和第二红外光;采用一数据处理单元将所述红外取像模组和取像模组输入的影像进行处理,从而得到所述目标物体的轮廓。8.一种电子装置,其包括如权利要求1所述的轮廓侦测装置。9.如权利要求8所述的电子装置,其特征在于,所述电子装置为游戏机。2CN102253590B说明书1/3页轮廓侦测装置、轮廓侦测方法及电子装置技术领域[0001]本发明涉及一种轮廓侦测装置、轮廓侦测方法及电子装置。背景技术[0002]随着多媒体技术的发展,数码相机、摄像机越来越为广大消费者青睐,在人们对数码相机、摄像机追求小型化的同时,对其拍摄出物体的影像质量提出更高的要求,人们不