基于系统的性能测试方法、装置、电子设备及存储介质.pdf

(19)国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN115509931A(43)申请公布日2022.12.23(21)申请号202211252287.8(22)申请日2022.10.13(71)申请人中国农业银行股份有限公司地址100005北京市东城区建国门内大街69号(72)发明人孙鑫鑫(74)专利代理机构北京品源专利代理有限公司11332专利代理师郭德霞(51)Int.Cl.G06F11/36(2006.01)权利要求书2页说明书14页附图4页(54)发明名称基于系统的性能测试方法、装置、电子设备及存储介质(57)摘要本发明公开了一种基于系统的性能测试方法、装置、电子设备及存储介质。所述基于系统的性能测试方法，包括：获取待测系统中待测参数的参数信息；根据所述待测参数的参数信息，对所述待测系统进行性能测试；确定本轮次性能测试的单次测试信息；在基于所述单次测试信息确定不满足测试结束条件时，更新所述参数信息并返回继续执行根据所述待测参数的参数信息，对所述待测系统进行性能测试，直至满足测试结束条件。上述技术方案通过单次测试信息判断是否满足测试结束条件，若不满足测试结束条件则更新参数信息，自动进行下一轮性能测试，直至满足测试结束条件，无需人工多次反复调试参数即可对系统进行性能测试，提高了系统性能测试的效率。CN115509931ACN115509931A权利要求书1/2页1.一种基于系统的性能测试方法，其特征在于，包括：获取待测系统中待测参数的参数信息；根据所述待测参数的参数信息，对所述待测系统进行性能测试；确定本轮次性能测试的单次测试信息；在基于所述单次测试信息确定不满足测试结束条件时，更新所述参数信息并返回继续执行根据所述待测参数的参数信息，对所述待测系统进行性能测试，直至满足测试结束条件。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取待测系统中待测参数的参数信息，包括：通过人机交互界面获取待测系统中待测参数的参数信息，所述参数信息至少包括：所述待测参数对应的参数文件路径、待测参数名称、待测参数初始值、待测参数最大值、待测参数最小值、调整步长和增减类型，其中，所述增减类型为递增或递减。3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述更新所述参数信息，包括：在所述参数信息所包括的待测参数初始值为确定数值时，以调整步长调整所述待测参数初始值，更新后的参数信息包括调整后的待测参数初始值；在增减类型为递增时，所述调整后的待测参数初始值不超过待测参数最大值；在增减类型为递减时，所述调整后的待测参数初始值不低于待测参数最小值。4.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述更新所述参数信息，包括：在所述参数信息所包括的待测参数初始值为参数区间时，以调整步长同步调整待测参数最小初始值和待测参数最大初始值，更新后的参数信息包括调整后的待测参数最小初始值和调整后的待测参数最大初始值；在增减类型为递增时，所述调整后的待测参数最小初始值不超过待测参数最小值，所述调整后的待测参数最大初始值不超过待测参数最大值；在增减类型为递减时，所述调整后的待测参数最小初始值不低于待测参数最小值，所述调整后的待测参数最大初始值不低于待测参数最大值；其中，所述待测参数初始值对应的参数区间的端点分别为，所述待测参数最小初始值和所述待测参数最大初始值。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述单次测试信息确定不满足测试结束条件，包括：在本轮次的单次测试信息所指示系统性能，相比上一轮次性能测试获得的单次测试信息所指示系统性能提升时，确定不满足测试结束条件；其中，所述单次测试信息至少包括中央处理器使用率、内存使用率和单位时间处理的事务数。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待测参数的数量为多个，在满足测试结束条件之后，还包括：对于所述待测系统中的每个待测参数，从所述待测参数对应的多个单次测试信息中，选取候选测试信息，所述候选测试信息所包括的中央处理器使用率或内存使用率低于设定阈值；从所述候选测试信息中，选取目标测试信息，所述目标测试信息所包括单位时间处理2CN115509931A权利要求书2/2页的事务数在所述候选测试信息所包括单位时间处理的事务数中取值最大；将所述目标测试信息所对应调整后的待测参数初始值，或调整后的待测参数最小初始值和调整后的待测参数最大初始值对应的参数区间，确定为待测参数值；基于各所述待测参数的待测参数值对所述待测系统进行性能测试。7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：生成性能测试报告，所述性能测试报告用于反映所述待测系统在所述待测参数下的系统性能。8.一种基于系统的性能测试装置，其特征在于，包括：获取模块，用于获取待测系统中待测参数的参数信息；第一测试模块，用于根据所述待测参数的参数信息，对所述待测系统