性能测试方法、装置、电子设备及存储介质.pdf
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性能测试方法、装置、电子设备及存储介质.pdf
本申请提供一种性能测试方法、装置、电子设备及存储介质,涉及通信网络技术领域。该方法包括:基于目标网卡中的目标接口函数生成初始信息组,其中,初始信息组用于记录对目标报文进行接收和发送的多个网络接口;基于初始信息组,确定对目标报文进行处理时的目标信息;基于目标信息确定目标报文的发送方式;基于发送方式对目标报文的转发性能进行测试,得到测试结果。本申请通过设置能够对网络接口进行记录的信息组,以在此基础上确定对目标报文进行处理时对应的网络接口信息,能够根据网络接口信息确定目标报文的发送方式,在发送方式的基础上进行性
设备性能测试方法、装置、存储介质及电子设备.pdf
本申请涉及人脸识别技术领域,提供一种设备性能测试方法、装置、存储介质及电子设备。其中,性能测试方法包括:向待测试的人脸识别设备提供测试视频流;获取人脸识别设备输出的测试结果;基于测试结果与测试视频流的参考库中的数据计算人脸识别设备的性能指标,该参考库中的数据是根据测试视频流中的可抓拍对象确定的。上述方法在测试人脸识别设备的性能时,整个测试流程从提供视频流到计算性能指标都是自动完整的,显著提高了测试效率,也便于进行大量测试。并且,采用自动化流程还有利于避免手工统计中存在的错误,提高性能指标计算的精确性,此外
基于系统的性能测试方法、装置、电子设备及存储介质.pdf
本发明公开了一种基于系统的性能测试方法、装置、电子设备及存储介质。所述基于系统的性能测试方法,包括:获取待测系统中待测参数的参数信息;根据所述待测参数的参数信息,对所述待测系统进行性能测试;确定本轮次性能测试的单次测试信息;在基于所述单次测试信息确定不满足测试结束条件时,更新所述参数信息并返回继续执行根据所述待测参数的参数信息,对所述待测系统进行性能测试,直至满足测试结束条件。上述技术方案通过单次测试信息判断是否满足测试结束条件,若不满足测试结束条件则更新参数信息,自动进行下一轮性能测试,直至满足测试结束
器件性能测试方法、装置、存储介质和电子设备.pdf
本发明公开了一种器件性能测试方法、装置、存储介质和电子设备。该方法包括:获取目标器件在第一电压下的第一漏电值和在第二电压下的第二漏电值;和/或获取目标器件在第一电流下的第一耐压值和在第二电流下的第二耐压值;在第一漏电值与第二漏电值的差的绝对值大于第一阈值或者第一耐压值与第二耐压值的差的绝对值大于第二阈值的情况下,确定目标器件为不合格器件。本发明解决了器件性能测试效率低的技术问题。
设备的存储性能分析方法、装置、存储介质及电子设备.pdf
本申请公开了一种设备的存储性能分析方法、装置、存储介质及电子设备,涉及金融科技领域。该方法包括:获取目标设备的多个磁盘机中的数据表,得到多组数据表;分别提取每组数据表中的目标特征信息,得到多个目标特征信息;将多个目标特征信息按属性信息进行分类,得到多组目标特征信息,并通过每组目标特征信息中的特征值计算性能数据,得到多个性能数据;根据多个性能数据确定目标设备的存储性能分析结果。通过本申请,解决了相关技术中在通过人工方式分析设备的存储性能的过程中,分析效率低,并且分析结果的准确性低的问题。