设备性能测试方法、装置、存储介质及电子设备.pdf
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性能测试方法、装置、电子设备及存储介质.pdf
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设备性能测试方法、装置、存储介质及电子设备.pdf
本申请涉及人脸识别技术领域,提供一种设备性能测试方法、装置、存储介质及电子设备。其中,性能测试方法包括:向待测试的人脸识别设备提供测试视频流;获取人脸识别设备输出的测试结果;基于测试结果与测试视频流的参考库中的数据计算人脸识别设备的性能指标,该参考库中的数据是根据测试视频流中的可抓拍对象确定的。上述方法在测试人脸识别设备的性能时,整个测试流程从提供视频流到计算性能指标都是自动完整的,显著提高了测试效率,也便于进行大量测试。并且,采用自动化流程还有利于避免手工统计中存在的错误,提高性能指标计算的精确性,此外
性能测试方法、装置、电子设备及可读存储介质.pdf
本申请涉及设备性能测试技术领域,公开了一种性能测试方法、装置、电子设备及可读存储介质,性能测试方法包括:获取日志文件;日志文件包括负载均衡设备运行时的日志数据;解析日志文件,得到与用户请求相关的关键信息;基于关键信息向负载均衡设备发送测试请求;基于负载均衡设备在处理测试请求时的运行状态,确定负载均衡设备的性能。本申请提供的性能测试方法可以通过解析负载均衡设备的日志文件来模拟线上流量完成对负载均衡设备的性能测试,有利于提高测试的准确度,降低测试成本,提高测试效率。
设备的存储性能分析方法、装置、存储介质及电子设备.pdf
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基于系统的性能测试方法、装置、电子设备及存储介质.pdf
本发明公开了一种基于系统的性能测试方法、装置、电子设备及存储介质。所述基于系统的性能测试方法,包括:获取待测系统中待测参数的参数信息;根据所述待测参数的参数信息,对所述待测系统进行性能测试;确定本轮次性能测试的单次测试信息;在基于所述单次测试信息确定不满足测试结束条件时,更新所述参数信息并返回继续执行根据所述待测参数的参数信息,对所述待测系统进行性能测试,直至满足测试结束条件。上述技术方案通过单次测试信息判断是否满足测试结束条件,若不满足测试结束条件则更新参数信息,自动进行下一轮性能测试,直至满足测试结束