器件性能测试方法、装置、存储介质和电子设备.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN113740693A(43)申请公布日2021.12.03(21)申请号202110988238.X(22)申请日2021.08.26(71)申请人珠海零边界集成电路有限公司地址519015广东省珠海市香洲区吉大景山路莲山巷8号1001室申请人珠海格力电器股份有限公司(72)发明人梁赛嫦吴佳蒙郭依腾曾丹(74)专利代理机构北京华夏泰和知识产权代理有限公司11662代理人曾军吴雪(51)Int.Cl.G01R31/26(2014.01)B07C5/344(2006.01)B07C5/36(2006.01)权利要求书2页说明书9页附图4页(54)发明名称器件性能测试方法、装置、存储介质和电子设备(57)摘要本发明公开了一种器件性能测试方法、装置、存储介质和电子设备。该方法包括：获取目标器件在第一电压下的第一漏电值和在第二电压下的第二漏电值；和/或获取目标器件在第一电流下的第一耐压值和在第二电流下的第二耐压值；在第一漏电值与第二漏电值的差的绝对值大于第一阈值或者第一耐压值与第二耐压值的差的绝对值大于第二阈值的情况下，确定目标器件为不合格器件。本发明解决了器件性能测试效率低的技术问题。CN113740693ACN113740693A权利要求书1/2页1.一种器件性能测试方法，其特征在于，包括：获取目标器件在第一电压下的第一漏电值和在第二电压下的第二漏电值；和/或获取所述目标器件在第一电流下的第一耐压值和在第二电流下的第二耐压值；在所述第一漏电值与所述第二漏电值的差的绝对值大于第一阈值或者所述第一耐压值与所述第二耐压值的差的绝对值大于第二阈值的情况下，确定所述目标器件为不合格器件。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在获取目标器件在第一电压下的第一漏电值和在第二电压下的第二漏电值或者在获取所述目标器件在第一电流下的第一耐压值和在第二电流下的第二耐压值之前，所述方法还包括：获取第一器件的电压电流曲线，其中，所述电压电流曲线记录有所述第一器件在不同的电压下的漏电值和不同电流下的耐压值，所述第一器件为预先检测为合格的器件。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在获取第一器件的电压电流曲线之后，所述方法还包括：在所述电压电流曲线上确定所述第一器件的击穿值，其中，所述击穿值对应所述电压电流曲线上的一个点，包括击穿电压和击穿电流，在所述第一器件的电压等于所述击穿电压的情况下，所述第一器件的漏电值大于所述击穿电流，在所述第一器件的电流大于或等于所述击穿电流的情况下，所述第一器件的耐压值等于所述击穿电压。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在所述电压电流曲线上确定所述第一器件的击穿值之后，所述方法还包括：获取所述电压电流曲线上小于所述击穿电压的两个不同的电压值；将所述两个不同的电压值分别确定为所述第一电压和所述第二电压。5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在所述电压电流曲线上确定所述第一器件的击穿值之后，所述方法还包括：获取所述电压电流曲线上大于所述击穿电流的两个不同的电流值；将所述两个不同的电流值分别确定为所述第一电流和所述第二电流。6.一种器件性能测试装置，其特征在于，包括：第一获取单元，用于获取目标器件在第一电压下的第一漏电值和在第二电压下的第二漏电值；和/或获取所述目标器件在第一电流下的第一耐压值和在第二电流下的第二耐压值；第一确定单元，用于在所述第一漏电值与所述第二漏电值的差的绝对值大于第一阈值或者所述第一耐压值与所述第二耐压值的差的绝对值大于第二阈值的情况下，确定所述目标器件为不合格器件。7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：第二获取单元，用于在获取目标器件在第一电压下的第一漏电值和在第二电压下的第二漏电值或者在获取所述目标器件在第一电流下的第一耐压值和在第二电流下的第二耐压值之前，获取第一器件的电压电流曲线，其中，所述电压电流曲线记录有所述第一器件在不同的电压下的漏电值和不同电流下的耐压值，所述第一器件为预先检测为合格的器件。8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：第二确定单元，用于在获取第一器件的电压电流曲线之后，在所述电压电流曲线上确2CN113740693A权利要求书2/2页定所述第一器件的击穿值，其中，所述击穿值对应所述电压电流曲线上的一个点，包括击穿电压和击穿电流，在所述第一器件的电压等于所述击穿电压的情况下，所述第一器件的漏电值大于所述击穿电流，在所述第一器件的电流大于或等于所述击穿电流的情况下，所述第一器件的耐压值等于所述击穿电压。9.一种计算机可读的存储介质，所述计算机可读的存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序运行时执行所述权利要求1至5任一项中所述的方法。10.一种电子