性能测试方法、装置、电子设备及可读存储介质.pdf
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相关资料
性能测试方法、装置、电子设备及可读存储介质.pdf
本申请涉及设备性能测试技术领域,公开了一种性能测试方法、装置、电子设备及可读存储介质,性能测试方法包括:获取日志文件;日志文件包括负载均衡设备运行时的日志数据;解析日志文件,得到与用户请求相关的关键信息;基于关键信息向负载均衡设备发送测试请求;基于负载均衡设备在处理测试请求时的运行状态,确定负载均衡设备的性能。本申请提供的性能测试方法可以通过解析负载均衡设备的日志文件来模拟线上流量完成对负载均衡设备的性能测试,有利于提高测试的准确度,降低测试成本,提高测试效率。
用户界面性能测试方法及装置、电子设备和可读存储介质.pdf
本发明提出了一种用户界面性能测试方法及装置、电子设备和可读存储介质,其中方法包括:接收针对目标应用触发的用户界面性能测试请求,所述用户界面性能测试请求用于请求对目标用户界面进行多种维度的目标性能测试,所述多种维度的目标性能测试至少包括响应耗时、内存泄露以及渲染性能中至少两项;响应于用户界面性能测试请求,从预配置的初始化方法中调用与目标性能测试匹配的目标初始化方法对目标应用进行初始化处理,所述目标初始化方法用于对目标应用进行操作以使得目标应用进入检测状态;在初始化处理完成后,采集与目标性能测试相关的性能数据
DRAM测试方法、装置、可读存储介质及电子设备.pdf
本发明公开一种DRAM测试方法、装置、可读存储介质及电子设备,通过对待测试的DRAM进行两轮测试,以预设测试单元为单位对存储阵列进行遍历直至遍历完存储阵列的所有存储单元,预设测试单元包括存储阵列的每一存储体上同一位置对应的预设操作单元,对于遍历到的目标测试单元,基于预设测试数据按照预设顺序对目标测试单元的每一预设操作单元进行数据读写操作,将读取的数据与对应写入的数据进行比较,通过两轮测试的比较结果得到最终测试结果,实现了矩阵跳转访问,模拟了非连续访问的情况,覆盖此前的测试盲区并检测出现有技术中较难被发现的
测试方法、装置、电子设备以及可读存储介质.pdf
本申请实施例公开了一种测试方法、装置、电子设备以及可读存储介质,该方法包括:对于待测试用例中的每个测试用例,获取每个测试用例在设定的测试设备组中对应的各测试设备上的历史测试时长,其中,每个测试用例至少在该测试设备组的一个测试设备上进行过一次测试;基于各测试用例各自对应的历史测试时长,确定各测试用例的测试平均时长;根据各测试用例的测试平均时长,确定由该设定的测试设备组完成所有测试用例的一次测试所需的时长阈值;根据时长阈值和各测试用例的测试平均时长,确定各测试用例在该测试设备组中分配到的目标测试设备,从而完成
数据存储方法、装置、电子设备及可读存储介质.pdf
本申请公开了一种数据存储方法、装置、电子设备及可读存储介质。其中,方法包括预先在分布式存储系统的磁盘中构建数据区和外溯源区,数据区域与外溯源区域具有对应关系。同时在内存中构建与外溯源区相对应的内溯源区。当检测到数据区写入目标数据,将目标数据对应的溯源信息写入至内溯源区;将内溯源区的数据下刷至外溯源区,以通过外溯源区存储数据区的溯源信息,从而可精准、高效地修复数据,及时确认数据丢失原因。