增材制造的缺陷检测装置、缺陷检测系统及缺陷检测方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN110954542A(43)申请公布日2020.04.03(21)申请号201911269736.8(22)申请日2019.12.11(71)申请人深圳先进技术研究院地址518055广东省深圳市南山区西丽大学城学苑大道1068号(72)发明人郭师峰冯伟吕高龙张艳辉徐天添李岩吴新宇(74)专利代理机构深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙)44280代理人黎坚怡(51)Int.Cl.G01N21/88(2006.01)权利要求书2页说明书6页附图5页(54)发明名称增材制造的缺陷检测装置、缺陷检测系统及缺陷检测方法(57)摘要本发明公开了一种增材制造的缺陷检测装置、缺陷检测系统及缺陷检测方法，该缺陷检测装置包括激光发生机构、激光检测机构以及控制机构，控制机构分别与所述激光发生机构和激光检测机构连接，用于在增材制造过程中控制激光发生机构发射第一激光至增材制件，控制激光检测机构发射第二激光至增材制件以对第一激光产生的辐射信号进行检测，并接收激光检测机构反馈的检测信号。本发明能够实现对增材制件的缺陷检测，其结构简单易于实现，检测实时性较好、精度较高，并且能够避免增材制件的表面盲区的问题，有助于提高增材制件的成品质量。CN110954542ACN110954542A权利要求书1/2页1.一种增材制造的缺陷检测装置，其特征在于，包括激光发生机构、激光检测机构以及控制机构，所述控制机构分别与所述激光发生机构和所述激光检测机构连接，用于在增材制造过程中控制所述激光发生机构发射第一激光至增材制件，控制所述激光检测机构发射第二激光至所述增材制件以对所述第一激光产生的辐射信号进行检测，并接收所述激光检测机构反馈的检测信号。2.根据权利要求1所述的缺陷检测装置，其特征在于，所述缺陷检测装置还包括机器人，所述机器人与所述控制机构连接，所述激光发生机构为脉冲激光器，所述脉冲激光器用于产生所述第一激光，并经设置于所述机器人上的第一透镜发射。3.根据权利要求2所述的缺陷检测装置，其特征在于，所述激光检测机构为激光干涉检测器，所述激光干涉检测器用于产生所述第二激光，并经设置于所述机器人上的第二透镜发射。4.根据权利要求3所述的缺陷检测装置，其特征在于，所述控制机构包括上位机管理机构、A/D采集机构、信号调理机构以及机器人控制机构，所述上位机管理机构分别与所述A/D采集机构和所述机器人控制机构连接，所述A/D采集机构分别与所述脉冲激光器和所述激光干涉检测器连接，所述信号调理机构分别与所述A/D采集机构和所述激光干涉检测器连接，所述机器人控制机构与所述机器人连接。5.一种增材制造的缺陷检测系统，其特征在于，包括增材制造装置及权利要求1至4任一项所述的缺陷检测装置，所述缺陷检测装置用于对所述增材制造装置制备的所述增材制件进行缺陷检测。6.根据权利要求5所述的缺陷检测系统，其特征在于，所述增材制造装置包括工作台、对应所述工作台设置的材料供应机构以及对应所述材料供应机构设置的增材制造激光器，增材制造激光器与所述控制机构连接，以在所述控制机构的控制下作用于所述材料供应机构，从而在所述工作台上制备所述增材制件，并根据所述检测信号对制造过程进行调整。7.一种增材制造的缺陷检测方法，其特征在于，包括：控制机构在增材制造过程中控制激光发生机构发射第一激光至增材制件，以产生辐射信号；所述控制机构控制激光检测机构发射第二激光至所述增材制件，以对所述辐射信号进行检测；所述控制机构接收所述激光检测机构反馈的检测信号。8.根据权利要求7所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述控制机构控制激光发生机构发射第一激光至增材制件，所述控制机构控制激光检测机构发射第二激光至所述增材制件具体包括：上位机管理机构向A/D采集机构发送第一控制信号和第二控制信号；所述A/D采集机构根据所述第一控制信号控制脉冲激光器产生所述第一激光，并经第一透镜发射至所述增材制件；所述A/D采集机构根据所述第二控制信号控制激光干涉检测器产生第二激光，并经第二透镜发射至所述增材制件。9.根据权利要求7所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述接收所述激光检测机构反馈的检测信号具体包括：2CN110954542A权利要求书2/2页所述激光干涉检测器将检测信号依次经信号调理机构及A/D采集机构发送至上位机管理机构。10.根据权利要求7所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述接收所述激光检测机构反馈的检测信号之后还包括：上位机管理机构对所述检测信号进行处理以产生第三控制信号；发送所述第三控制信号至增材制造装置，以对所述增材制造装置的制造过程进行调整。3CN110954542A说明书1/6页增材制造的缺陷检测装置、缺陷检测系统及缺陷检测方法技术领域[0001]本发明涉及