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(19)国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN114812448A(43)申请公布日2022.07.29(21)申请号202110058165.4(22)申请日2021.01.16(71)申请人上海交震智能科技有限公司地址201412上海市奉贤区新四平公路168号-7(72)发明人殷跃红赵雨阳徐俊东(51)Int.Cl.G01B11/30(2006.01)H01L21/66(2006.01)H01L21/68(2006.01)H01L21/683(2006.01)H01L21/687(2006.01)权利要求书2页说明书4页附图4页(54)发明名称自动晶圆表面平整度检测装置(57)摘要本发明涉及一种自动晶圆表面平整度检测装置,以解决晶圆平整度检测装置需要通过人工干预进行测量,不便使用的问题,以获得整个晶圆面内精确的平整度信息,确保整个晶圆内曝光后的图形质量。该自动晶圆表面平整度检测装置,结构包括:壳体和支撑架,所述壳体固定在支撑架上,所述支撑架前端安装机械臂工作平台,后端安装三个隔振元件。所述机械臂工作平台安装有机械臂和晶圆盒固定装置。所述隔振元件支撑干涉仪框架,所述干涉仪框架上固定有一个斐索型高精度激光干涉仪,所述激光干涉仪下方安装真空吸盘吸附晶圆和一个移动平台带动真空吸盘靠近和远离机械臂。机械臂镜晶圆从晶圆盒中取出传送到真空吸盘,吸附后移动到干涉仪下方测量晶圆面形数据,传输给计算机从而计算晶圆表面平整度。CN114812448ACN114812448A权利要求书1/2页1.一种自动晶圆表面平整度检测装置,其结构包括支撑架(1)、机械臂工作平台(2)、机械臂(3)、晶圆盒固定装置(4)、真空吸盘(5)、卡座(6)、吊环(7)、L型挡板(8)、干涉仪框架(9)、隔振器挡板(10)、隔振器(11)、干涉仪(12)、隔振器安装座(13)、移动平台(14)、高度调整机构(15)、顶杆(16)、限位杆(17)、丝杠(18)、滑块(19)、导轨(20)、电机(21)和定位杆(22)。2.根据权利要求1所述的自动晶圆表面平整度检测装置,其特征在于:所述支撑架(1)有六个支撑腿,每个支撑腿底部有一个高度调整机构(15),前端的两个支撑腿高度低于后端四个支撑腿,且后端四个支撑腿高度相同,支撑架前端高度较低,支撑机械臂工作平台(2);支撑架后端的四个支撑腿较高,支撑自动水平调节的气浮式光学平台支撑架的三个隔振器(3)。3.根据权利要求2所述的自动晶圆表面平整度检测装置,其特征在于:所述机械臂工作平台(2)中间开有一个孔,孔的形状和机械臂(3)的底座横截面相同,用于安装机械臂(3),机械臂工作平台(2)的前侧和左、右两侧都安装有晶圆盒固定装置(4)。4.根据权利要求3所述的自动晶圆表面平整度检测装置,其特征在于:所述晶圆盒固定装置(4)上的定位杆(22)可以实现对晶圆盒的定位功能,机械臂(3)可以升降,且升降高度可以满足晶圆盒高度范围,从而可以顺利从晶圆盒中取出所有晶圆或者将检测完成的晶圆放置到晶圆盒中。5.根据权利要求2所述的自动晶圆表面平整度检测装置,其特征在于:所述支撑自动水平调节的气浮式光学平台支撑架的三个隔振器(11),下方安装在圆形的隔振器安装座(13)中,上方安装在隔振器挡板(10)下端,从而支撑起整个干涉仪框架(9)。6.根据权利要求5所述的自动晶圆表面平整度检测装置,其特征在于:所述干涉仪框架(9)和支撑架(1)之间,在运输时,通过螺母,将干涉仪框架(9)上的L型挡板(8),和支撑架(1)上的卡座(6)固接,卡座(6)上固定有吊环(7)。7.根据权利要求5所述的自动晶圆表面平整度检测装置,其特征在于:所述干涉仪框架(9)为长方体结构,采用方形钢焊接而成,设置有三个外置的隔振器挡板(10)。8.根据权利要求1所述的自动晶圆表面平整度检测装置,其特征在于:所述干涉仪(12)竖直安装在干涉仪框架(9)内部,移动平台(14)安装在干涉仪框架(9)底部,真空吸盘(5)安装在移动平台(14)上。9.根据权利要求8所述的自动晶圆表面平整度检测装置,其特征在于:所述干涉仪(12)光束轴线和真空吸盘(5)所在平面相垂直。10.根据权利要求1所述的自动晶圆表面平整度检测装置,其特征在于:所述真空吸盘(5)周围有三个可升降的顶杆(16),加载晶圆时,顶杆(16)升起,为机械臂(3)的进入提供运动空间,晶圆加载结束时,机械臂(3)退出,顶杆(16)降落,晶圆和顶杆(16)分离,落在真空吸盘(5)上。11.根据权利要求10所述的自动晶圆表面平整度检测装置,其特征在于:所述顶杆(16)和晶圆的接触面为平面。12.根据权利要求1所述的自动晶圆表面平整度检测装置,其特征在于:所述真空吸盘(5)的最外围还有三个限位杆(17),限位杆(17)用于