

一种提高晶圆表面平整度的湿法刻蚀装置.pdf
一吃****书竹
在线预览结束,喜欢就下载吧,查找使用更方便
相关资料
一种提高晶圆表面平整度的湿法刻蚀装置.pdf
本发明涉及湿法刻蚀技术领域,尤其涉及一种提高晶圆表面平整度的湿法刻蚀装置,包括至少一个酸碱槽,用于盛放酸碱液,以对晶圆进行湿法刻蚀;若干齿轮,设置于所述酸碱槽的底部,所述齿轮的齿口尺寸与所述晶圆的厚度匹配,以用于咬合所述晶圆;制动装置,与所述齿轮连接,以驱动所述齿轮带动所述晶圆旋转,使所述晶圆在放入和取出所述酸碱槽的过程中各部位接触所述酸碱液的时间一致,以提高所述晶圆的表面平整度。
一种晶圆生产用表面化学刻蚀装置.pdf
本发明涉及晶圆生产制造附属装置的技术领域,特别是涉及一种晶圆生产用表面化学刻蚀装置,其可以使多组晶圆放置规整,防止多组晶圆相互叠放,使化学溶液在对多组晶圆进行冲洗的过程中与多组晶圆表面上的三氧化二铝和甘油混合液接触反应更加充分,提高化学刻蚀效果;其使用后的化学溶液可以进行收集储存处理,降低使用局限性;包括过渡箱、底板、顶板、左支撑板、右支撑板、左弧形板、右弧形板、左放置板、右放置板、前支撑轴、后支撑轴、带动轴、上支撑轴、左卡板、右卡板、左安装板、右安装板、两组左安装螺栓、两组右安装螺栓、收集箱、两组左滑轮
自动晶圆表面平整度检测装置.pdf
本发明涉及一种自动晶圆表面平整度检测装置,以解决晶圆平整度检测装置需要通过人工干预进行测量,不便使用的问题,以获得整个晶圆面内精确的平整度信息,确保整个晶圆内曝光后的图形质量。该自动晶圆表面平整度检测装置,结构包括:壳体和支撑架,所述壳体固定在支撑架上,所述支撑架前端安装机械臂工作平台,后端安装三个隔振元件。所述机械臂工作平台安装有机械臂和晶圆盒固定装置。所述隔振元件支撑干涉仪框架,所述干涉仪框架上固定有一个斐索型高精度激光干涉仪,所述激光干涉仪下方安装真空吸盘吸附晶圆和一个移动平台带动真空吸盘靠近和远离
一种晶圆流片表面平整度检测装置.pdf
本发明涉及晶圆流片检测附属装置的技术领域,特别是涉及一种晶圆流片表面平整度检测装置,其方便对晶圆流片进行固定,并且防止晶圆流片由于受力不均衡而发生变形的情况,保证检测精度的精准性;同时方便对晶圆流片的表面进行多点取样,得出的检测结果更具有代表性,提高实用性;包括检测箱、检测数据分析仪、放置台、旋转电机、固定环、三组夹持杆、三组“C”型弹片、支撑板、左支板、右支板、调节轴和蜗杆,还包括转轴、第一滚珠轴承、第二滚珠轴承、第三滚珠轴承、第四滚珠轴承、涡轮、放置板和调节圆板,放置圆板的外侧均匀设置有三组半圆凸起,
一种晶圆刻蚀设备及晶圆刻蚀方法.pdf
本发明提供一种晶圆刻蚀设备及晶圆刻蚀方法,刻蚀腔体提供包含HBr的刻蚀气体,以对晶圆进行刻蚀;热处理腔体包括加热系统及排气系统,且热处理腔体的工作温度不小于刻蚀腔体的工作温度,晶圆经刻蚀腔体刻蚀后,进入热处理腔体,并通过加热系统及排气系统排除晶圆表面残留的HBr。通过包括加热系统及排气系统的热处理腔体,在晶圆没有降温的前提下,去除晶圆表面残留的HBr,从而减少氢溴酸对半导体设备的腐蚀,使半导体设备的寿命得以延长;减少晶圆表面HBr凝结的产生,提供产品质量。