非晶硅的应用、晶圆上芯片的形成方法及晶圆上芯片.pdf
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非晶硅的应用、晶圆上芯片的形成方法及晶圆上芯片.pdf
本发明涉及一种非晶硅在晶圆上芯片中作为芯片之间填充材料的应用、晶圆上芯片的形成方法及晶圆上芯片。其中,晶圆上芯片的形成方法,包括以下步骤:提供待接合的晶圆以及多个芯片;执行接合工艺,在所述晶圆之上接合所述多个芯片且在所述多个芯片之间形成间隙;执行间隙填充工艺,以非晶硅作为填充材料填充所述间隙并覆盖所述芯片的表面;执行化学机械研磨工艺,以露出所述芯片的表面。采用非晶硅作为填充材料填充至各芯片之间的间隙中,由于非晶硅与作为芯片基材的硅的材质相近,在后续利用化学机械研磨工艺进行减薄的过程中,可以降低化学机械研磨
制作板上芯片的晶圆样品的制备方法及板上芯片制作方法.pdf
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晶圆级芯片封装方法、晶圆级芯片封装结构和电子设备.pdf
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TOF芯片的晶圆测试系统、方法.pdf
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晶圆芯片特征分析报告.docx
晶圆芯片特征分析报告晶圆芯片特征分析报告一、简介晶圆芯片是一种主要用于集成电路制造的基础材料,它通过在硅片表面进行复杂的工艺步骤,实现对电子器件的组装和连接。本报告旨在对晶圆芯片的特征进行分析,以评估其品质和性能。二、外观特征分析晶圆芯片的外观特征对其制造过程和质量有着重要的指示意义。在外观特征分析中,我们关注以下几个方面:1.晶圆芯片的尺寸和形状:测量晶圆的直径、平整度和圆整度,判断其符合规定尺寸范围内的要求。2.表面质量:观察晶圆表面是否存在缺陷、划痕、污染等问题,评估其光洁度和平整度。3.边缘平整度