晶圆缺陷的检测方法及装置.pdf
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晶圆缺陷的检测方法及装置.pdf
本申请是关于一种晶圆缺陷的检测方法及装置。该方法包括:通过模板匹配算法识别出待测晶圆上不同缺陷形态所对应的图像区域,从而根据不同图像区域的检测图像进行特征参数的提取,提取出的特征参数可以可靠表征待测晶圆,对提取出的特征参数进行阈值判断,根据判断结果得到待测晶圆的缺陷检测结果。本申请提供的方案,能够识别出缺陷类型,并根据映射关系推算出晶圆生产制程中的站点异常,从而为晶圆制程提供指导性的改善建议。
晶圆缺陷的检测方法及装置.pdf
本申请是关于一种晶圆缺陷的检测方法及装置。该方法包括:通过模板匹配算法识别出待测晶圆上不同缺陷形态所对应的图像区域,从而根据不同图像区域的检测图像进行特征参数的提取,提取出的特征参数可以可靠表征待测晶圆,对提取出的特征参数进行阈值判断,根据判断结果得到待测晶圆的缺陷检测结果。本申请提供的方案,能够识别出缺陷类型,并根据映射关系推算出晶圆生产制程中的站点异常,从而为晶圆制程提供指导性的改善建议。
晶圆缺陷检测设备以及晶圆缺陷检测方法.pdf
本申请属于半导体技术领域,具体涉及一种晶圆缺陷检测设备以及晶圆缺陷检测方法,该晶圆缺陷检测设备包括晶圆承载组件、光源组件、光线接收部和处理器,晶圆承载组件设置成用于承载待检测晶圆,光源组件包括至少两个激光光源,且至少两个激光光源的波长不同,光源组件设置成向待检测晶圆发射入射光线,入射光线经待检测晶圆形成出射光线,光线接收部设置成接收出射光线,处理器与光线接收部电连接,处理器设置成对出射光线进行处理以确定待检测晶圆是否存在缺陷。根据发明实施例的晶圆缺陷检测设备,综合了灯源和激光的优势的晶圆缺陷检测设备,既保
晶圆缺陷的检测方法.pdf
本发明提供一种晶圆缺陷的检测方法,包括:获取晶圆表面的图像,并将所述晶圆表面的图像划分为多个检测区域;在每个所述检测区域内选取多个第一测定区域,并将每个所述检测区域内的第一测定区域进行差异化比对,根据差异化比对的结果获得每个所述检测区域用于表征缺陷的阈值;将每个所述检测区域划分为多个第二测定区域,并将每个所述检测区域内的第二测定区域进行差异化比对后,将差异化比对的结果与对应的检测区域的阈值进行比较,若比较的结果满足预设条件,即获得对应的检测区域上所存在的缺陷。本发明通过给不同检测区域设定不同的阈值,得到与
一种晶圆缺陷标记装置及晶圆缺陷标记方法.pdf
本发明涉及一种晶圆缺陷标记装置和晶圆缺陷标记方法,用于对待测晶圆的缺陷位置进行标记,以便于后续对缺陷进行分析。本发明通过采用激光对待测晶圆进行刻蚀而产生标记,具有标记简单,可永久保留的优点。