显微镜系统及其调校方法及测序系统.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN112327471A(43)申请公布日2021.02.05(21)申请号201811278035.6G02B21/36(2006.01)(22)申请日2018.10.30(71)申请人深圳市真迈生物科技有限公司地址518000广东省深圳市罗湖区清水河街道清水河一路116号深业进元大厦2座5楼、6楼(72)发明人齐继芳徐家宏张松振周志良陈龙超姜泽飞颜钦(74)专利代理机构北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)11201代理人黄德海(51)Int.Cl.G02B21/02(2006.01)G02B21/06(2006.01)G02B21/26(2006.01)权利要求书2页说明书10页附图17页(54)发明名称显微镜系统及其调校方法及测序系统(57)摘要本发明公开了一种显微镜系统的调校方法，调校方法包括步骤：利用光源发射经过分划板的光至物镜安装面，分划板具有至少一个标识图案；获取物镜安装面反射的光形成的标识图案的第一像；利用光源发射经过分划板的光至载物面；获取载物面反射的光形成的标识图案的第二像；以及调节载物平台使标识图案的第二像和标识图案的第一像重合，以使载物面平行于物镜安装面。调校方法提高了检测在载物面与物镜安装面是否平行的效率。另外，在载物面与物镜安装面不平行时调节载物平台，使得载物面平行于物镜安装面，调校过程简单。本发明还公开了一种显微镜系统及测序系统。CN112327471ACN112327471A权利要求书1/2页1.一种显微镜系统的调校方法，其特征在于，所述显微镜系统包括光源、载物平台和与所述载物平台相对设置的物镜安装件，所述载物平台包括载物面，所述物镜安装件包括与所述载物面相对的物镜安装面，所述调校方法包括步骤：利用光源发射经过分划板的光至所述物镜安装面，所述分划板具有至少一个标识图案；获取所述物镜安装面反射的光形成的所述标识图案的第一像；利用所述光源发射经过所述分划板的光至所述载物面；获取所述载物面反射的光形成的所述标识图案的第二像；以及调节所述载物平台使所述标识图案的第二像和所述标识图案的第一像重合，以使所述载物面平行于所述物镜安装面。2.如权利要求1所述的显微镜系统的调校方法，其特征在于，所述显微镜系统包括设置在所述分划板与所述载物平台之间的二向色镜。3.如权利要求1所述的显微镜系统的调校方法，其特征在于，所述物镜安装面设有第一光学元件，所述第一光学元件用于反射到达所述物镜安装面的光；或者所述载物面设有第二光学元件，所述第二光学元件用于反射到达所述载物面的光；任选地，所述第一光学元件和/或所述第二光学元件选自玻璃、平面镜、反射镜和平行平晶中的至少一种。4.如权利要求1所述的显微镜系统的调校方法，其特征在于，所述显微镜系统包括相机，所述相机用于接收所述第一像和所述第二像，当所述第一像和所述第二像在同一像面上的距离不大于20像素时，判定所述第二像和所述第一像重合。5.如权利要求1所述的显微镜系统的调校方法，其特征在于，所述显微镜系统包括连接所述载物平台的第一调节结构，所述第一调节结构用于调节所述载物平台；任选地，所述第一调节结构包括第一调节件和支撑件，所述支撑件设有斜面，所述载物平台设于所述斜面上，所述第一调节件连接所述支撑件，调节所述第一调节件以带动所述支撑件移动以使所述载物平台在所述斜面上的位置发生变化，实现所述载物平台的调节；任选地，所述第一调节结构包括基板，所述第一调节件和所述支撑件设置在所述基板，所述载物平台位于所述基板上，调节所述第一调节件以带动所述支撑件时调节所述载物面相对于所述基板的俯仰角度；任选地，所述第一调节结构包括连接件、第一配件和第二配件，所述连接件连接所述载物平台和所述基板，所述第一配件和所述第二配可相对转动地连接并位于所述载物平台和所述基板之间，所述第一配件设在所述载物平台，所述第二配件设在所述基板，使所述第一配件与所述第二配件发生相对转动以实现所述载物面相对于所述基板的俯仰角度的调节。6.如权利要求5所述的显微镜系统的调校方法，其特征在于，所述第一调节结构包括固定组件；所述调校方法包括：在所述第二像和所述第一像重合时，利用所述固定组件固定所述载物平台。7.如权利要求1-6任一所述的显微镜系统的调校方法，其特征在于，所述显微镜系统包括承载模块和第二调节结构，所述承载模块用于承载反应器，所述调校方法包括：将载有所述反应器的承载模块和所述第二调节结构安装在所述载物面上，所述承载模2CN112327471A权利要求书2/2页块位于所述第二调节结构上，调节所述第二调节结构以使所述反应器的表面与所述载物面满足预设位置关系；任选地，所述第二调节结构包括调节板和多个第二调节件，所述承载模块包括设在所述调节板上的基座，所述