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(19)国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN116026230A(43)申请公布日2023.04.28(21)申请号202211302616.5(22)申请日2022.10.24(30)优先权数据21204597.52021.10.25EP(71)申请人迈来芯电子科技有限公司地址瑞士伯韦(72)发明人W·克鲁格(74)专利代理机构上海专利商标事务所有限公司31100专利代理师张鑫黄嵩泉(51)Int.Cl.G01B7/30(2006.01)权利要求书4页说明书13页附图7页(54)发明名称用于确定角位置的电路和方法(57)摘要本申请公开了用于确定角位置的电路和方法。一种用于确定旋转对象的角位置的传感器电路,对象被配置成用于生成或调制磁场,传感器电路包括:a)第一传感器,用于提供第一传感器信号;b)第二传感器,用于提供第二传感器信号;c)信号校正框,用于接收第一/第二传感器信号或从中导出的信号作为第一/第二输入信号,以及接收多个反馈信号;以及被配置为提供第一经校正信号和第二经校正信号;d)角度计算框,角度计算框被配置为接收第一经校正信号和第二经校正信号,以及确定作为第一经校正信号和第二经校正信号的比率的函数的所述角位置信号;e)反馈框,反馈框被配置为接收所述角位置信号,以及基于角位置信号以改进的线性度生成所述多个反馈信号。CN116026230ACN116026230A权利要求书1/4页1.一种用于确定当对象相对于所述传感器电路旋转时的角位置的传感器电路,其中所述对象被配置成用于生成或调制磁场,所述传感器电路包括:a)第一传感器,所述第一传感器被配置成用于测量所述磁场的第一特征,以及提供第一传感器信号(ss1);b)第二传感器,所述第二传感器被配置成用于测量所述磁场的第二特征,以及提供第二传感器信号(ss2);c)信号校正框,所述信号校正框被配置成用于接收所述第一传感器信号(ss1)或从中导出的信号作为第一输入信号(Isig),以及接收所述第二传感器信号(ss2)或从中导出的信号作为第二输入信号(Qsig),以及多个反馈信号(Idc_c、Qdc_c、Gmm_c);以及被配置成用于提供具有第一振幅的第一经校正信号(Iadj)和具有基本上等于所述第一振幅的第二振幅的第二经校正信号(Qadj);d)角度计算框,所述角度计算框被配置成用于接收所述第一经校正信号和所述第二经校正信号(Iadj、Qadj),以及确定作为所述第一经校正信号和所述第二经校正信号(Iadj、Qadj)的比率的函数的所述角位置信号e)反馈框,所述反馈框被配置成用于接收所述角位置信号以及基于所述角位置信号生成所述多个反馈信号(Idc_c、Qdc_c、Gmm_c),使得所述角位置具有改进的线性度。2.根据权利要求1所述的传感器电路,其中所述多个反馈信号包括:第一误差信号(Idc_c)、第二误差信号(Qdc_c)以及第一缩放信号(Gmm_c);并且其中,所述信号校正框包括:i)第一组合器(∑1),被布置为接收和组合所述第一输入信号(Isig)和第一误差信号(Idc_c),从而提供第一组合信号(s1);以及ii)第二组合器(∑2),被布置为接收和组合所述第二输入信号(Qsig)和第二误差信号(Qdc_c),从而提供第二组合信号(s2);以及iii)第一缩放器(A1),被布置为使用所述第一缩放信号(Gmm_c)缩放所述第二组合信号(s2),从而提供第三信号(s3);其中所述第一经校正信号(Iadj)是第一组合信号(s1),或是从所述第一组合信号(s1)和所述第三信号(s3)导出的;以及其中所述第二经校正信号(Qadj)是所述第三信号(s3),或是从所述第一组合信号(s1)和所述第三信号(s3)导出的。3.根据权利要求2所述的传感器电路,其中所述多个反馈信号进一步包括:第二缩放信号(Gmm2_c);并且其中,所述信号校正框进一步包括:iv)第二缩放器(A2),被布置为使用所述第二缩放信号(Gmm2_c)缩放所述第三信号(s3);v)第三组合器(∑3),被布置为组合所述第二缩放器(A2)的输出和所述第一组合信号(s1),从而提供所述第一经校正信号(Iadj);2CN116026230A权利要求书2/4页vi)第三缩放器(A3),被布置为使用所述第二缩放信号(Gmm2_c)缩放所述第一组合信号(s1);vii)第四组合器(∑4),被布置为组合所述第三缩放器(A3)的输出和所述第三信号(s3),从而提供所述第二经校正信号(Qadj)。4.根据权利要求1所述的传感器电路,其中所述多个反馈信号包括:第一误差信号(Idc_c)、第二误差信号(Qdc_c)以及第一缩放信号(Gmm_c);以及其中所述反馈框包括:α)求导框(331),所述求导框(331)被配置成用于接收所述