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(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN108878241A(43)申请公布日2018.11.23(21)申请号201710325667.2(22)申请日2017.05.10(71)申请人北京北方华创微电子装备有限公司地址100176北京市北京经济技术开发区文昌大道8号(72)发明人郝亮(74)专利代理机构北京天昊联合知识产权代理有限公司11112代理人彭瑞欣张天舒(51)Int.Cl.H01J37/32(2006.01)H01J37/305(2006.01)权利要求书2页说明书7页附图5页(54)发明名称半导体设备和半导体设备的反应腔室的清理方法(57)摘要本发明公开了一种半导体设备和该半导体设备的反应腔室的清理方法,属于半导体制造技术领域。所述半导体设备包括反应腔室,用于容纳待处理晶片,所述半导体设备还包括位于所述反应腔室的侧壁且靠近所述反应腔室顶部的进气清理组件,所述进气清理组件包括至少一个喷嘴,所述喷嘴可沿所述反应腔室的径向伸缩,以调节所述喷嘴伸入到所述反应腔室内部的长度,以清理位于所述反应腔室顶部的残留物。能够有效提高待处理晶片的加工良率,同时,还能够减少反应腔室维护后的恢复时间。CN108878241ACN108878241A权利要求书1/2页1.一种半导体设备,所述半导体设备包括反应腔室,用于容纳待处理晶片,其特征在于,所述半导体设备还包括位于所述反应腔室的侧壁且靠近所述反应腔室顶部的进气清理组件,所述进气清理组件包括至少一个喷嘴,所述喷嘴可沿所述反应腔室的径向伸缩,以调节所述喷嘴伸入到所述反应腔室内部的长度,以清理位于所述反应腔室顶部的残留物。2.根据权利要求1所述的半导体设备,其特征在于,所述进气清理组件还包括至少一个固定件;所述喷嘴包括螺纹部和与所述螺纹部连接的喷嘴部;每个所述固定件对应一个所述喷嘴,且所述固定件内设置有与所述螺纹部相匹配的螺纹孔,部分所述螺纹部设置在所述螺纹孔中;所述进气清理组件还包括至少一个驱动马达,每个驱动马达对应一个所述喷嘴且与其所对应的喷嘴的位于所述螺纹孔外侧的螺纹部连接,以驱动所述螺纹部旋转,带动所述喷嘴沿所述反应腔室的径向移动,以改变伸入到所述反应腔室内部的喷嘴的长度;其中,所述固定件沿所述反应腔室的径向无相对移动。3.根据权利要求2所述的半导体设备,其特征在于,所述进气清理组件还包括进气管,所述进气管设置有进气口和至少一个出气口,所述进气口用于与气源连通,每个所述出气口对应一个所述喷嘴且与其对应的所述喷嘴的喷嘴部连通。4.根据权利要求3所述的半导体设备,其特征在于,所述进气清理组件还包括至少一个弹性管,每个所述弹性管对应一个所述喷嘴,所述弹性管设置在与其所对应的所述喷嘴和所述进气管的出气口之间。5.根据权利要求1至4任意一项所述的半导体设备,其特征在于,所述进气清理组件与所述反应腔室顶部的距离为3-10cm。6.根据权利要求1至4任意一项所述的半导体设备,其特征在于,所述进气清理组件包括多个所述喷嘴,多个所述喷嘴沿所述反应腔室的周向均匀设置。7.一种半导体设备的反应腔室的清理方法,其特征在于,所述半导体设备包括权利要求1至6任意一项所述的半导体设备,所述方法包括在所述半导体设备维护后,利用所述进气清理组件对所述半导体设备的反应腔室进行预清理的步骤,所述步骤包括:向所述进气清理组件中的喷嘴提供第一预设流量值的气体;设定所述进气清理组件的第一清理参数,所述第一清理参数包括第一伸缩周期、第一清理时间以及所述喷嘴的第一伸缩量;根据设定的所述第一清理参数完成所述半导体设备的反应腔室的预清理,以去除维护所产生的残留物。8.根据权利要求7所述的清理方法,其特征在于,所述第一预设流量值为200-1000scm,所述第一伸缩周期为3-10s,所述第一清理时间为60-300s,所述第一伸缩量为1-8cm。9.一种半导体设备的反应腔室的清理方法,其特征在于,所述半导体设备包括权利要求1至6任意一项所述的半导体设备,所述清理方法包括在工艺后利用所述进气清理组件对所述半导体设备的反应腔室进行清理的步骤,所述步骤包括:向所述进气清理组件中的喷嘴提供第二预设流量值的气体;设定所述进气清理组件的第二清理参数,所述第二清理参数包括第二伸缩周期、第二清理时间以及所述喷嘴的第二伸缩量;2CN108878241A权利要求书2/2页根据设定的第二清理参数完成清理,以去除工艺所产生的残留物。10.根据权利要求9所述的清理方法,其特征在于,所述第二预设流量值为100-200scm,所述第二伸缩周期为3-10s,所述第二清理时间为10-30s,所述第二伸缩量为1-8cm。3CN108878241A说明书1/7页半导体设备和半导体设备的反应腔室的清理方法技术领域[0001]本发明涉及半导