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(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN109690809A(43)申请公布日2019.04.26(21)申请号201780056058.X(74)专利代理机构北京鸿元知识产权代理有限公司1(22)申请日2017.09.111327代理人姜虎陈英俊(30)优先权数据10-2016-01174852016.09.12KR(51)Int.Cl.10-2017-01120672017.09.01KRH01L51/56(2006.01)H01L51/00(2006.01)(85)PCT国际申请进入国家阶段日C23C14/04(2006.01)2019.03.12C23C14/56(2006.01)(86)PCT国际申请的申请数据B08B7/00(2006.01)PCT/KR2017/0099362017.09.11(87)PCT国际申请的公布数据WO2018/048266KO2018.03.15(71)申请人株式会社达文希斯地址韩国京畿道(72)发明人朴善淳李海龙朴南奎金东训池成勋洪沅义朴永一权利要求书2页说明书10页附图9页(54)发明名称掩模清洗装置以及掩模清洗方法(57)摘要本发明涉及一种掩模清洗装置以及掩模清洗方法,其能够清洗残留在有机发光装置用金属掩模表面上的有机物。所述掩模清洗装置可以包括:真空腔室,在内部形成有能够收纳掩模的收纳空间,并且在内部形成真空环境,从而易于去除残留在所述掩模上的有机物;第一清洗光照射装置,能够向收纳于所述真空腔室中的所述掩模照射清洗光,从而在所述真空环境下对所述有机物施加光能,以便能够从所述掩模分解并分离所述有机物以进行去除;以及控制部,能够向所述第一清洗光照射装置提供脉冲波电源。CN109690809ACN109690809A权利要求书1/2页1.一种掩模清洗装置,其特征在于,包括:真空腔室,在内部形成有能够收纳掩模的收纳空间,并且在内部形成真空环境,从而易于去除残留在所述掩模上的有机物;第一清洗光照射装置,能够向收纳于所述真空腔室中的所述掩模照射清洗光,从而在所述真空环境下对所述有机物施加光能,以便能够从所述掩模分解并分离所述有机物以进行去除;以及控制部,能够向所述第一清洗光照射装置提供脉冲波电源。2.根据权利要求1所述的掩模清洗装置,其特征在于,所述掩模是有机电致发光显示装置制造用精细金属掩模(FMM),所述第一清洗光照射装置中,由第一氙灯接收来自所述控制部的具有第一强度或者第一脉冲施加时间的第一脉冲波电源,从而产生第一强脉冲光(IntensePulseLight),以便能够去除残留在所述掩模上的所述有机物。3.根据权利要求2所述的掩模清洗装置,其特征在于,所述第一清洗光照射装置中,由所述第一氙灯接收来自所述控制部的具有第二强度或者第二脉冲施加时间的第二脉冲电源,从而产生第二强脉冲光,以便能够去除残留在用于支撑所述掩模的框架上的有机物,其中,所述第二强度大于第一强度,所述第二脉冲施加时间长于所述第一脉冲施加时间。4.根据权利要求3所述的掩模清洗装置,其特征在于,进一步包括:掩模移动装置,其用于使所述掩模或者所述第一清洗光照射装置进行相对移动,以使所述第一清洗光照射装置所产生的所述清洗光能够对所述掩模进行局部照射或者扫描照射。5.根据权利要求4所述的掩模清洗装置,其特征在于,进一步包括:转台装置,设置于所述真空腔室或者所述掩模移动装置,能够使所述掩模以及所述框架进行角旋转,从而在向支撑所述掩模的所述框架照射所述清洗光时,使所述掩模以及所述框架旋转为第一角度,以便进行相当于第一宽度的局部照射或者扫描照射,而向所述掩模照射所述清洗光时,使所述掩模以及支撑所述掩模的框架旋转为第二角度,以便进行相当于第二宽度的局部照射或者扫描照射。6.根据权利要求5所述的掩模清洗装置,其特征在于,当向整体上呈四边形环状的所述框架照射清洗光时,所述转台装置每次使所述掩模以及所述框架旋转90度,以便分别对四个框架构件进行相当于各自宽度的局部照射或者扫描照射。7.根据权利要求2所述的掩模清洗装置,其特征在于,进一步包括:第二清洗光照射装置,用于使第二氙灯接收来自所述控制部的具有第二强度或者第二脉冲施加时间的第二脉冲电源,从而产生第二强脉冲光,以便能够去除残留在用于支撑所述掩模的框架上的有机物,其中,所述第二强度大于第一强度,所述第二脉冲施加时间长于所述第一脉冲施加时间。8.根据权利要求1所述的掩模清洗装置,其特征在于,进一步包括:第一带通滤波器,其能够设置在所述清洗光的光路上,使对于第一有机物的分解能力优异的第一波段的光通过。2CN109690809A权利要求书2/2页9.根据权利要求8所述的掩模清洗装置,其特征在于,进一步包括:第二带通滤波器,其能够设置在所述清洗光的光路上,使对于