多管脚半导体产品的封装方法.pdf
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相关资料
多管脚半导体产品的封装方法.pdf
本发明公开了多管脚半导体产品的封装方法,包括贴芯片步骤、引线键合步骤、模封步骤以及电镀步骤;在电镀步骤之前增加切筋步骤和去毛刺步骤,电镀步骤之后增加分离步骤和成型步骤;进而可通过切筋步骤对模封后的引线框架中与管脚连接的连筋去除,并通过去毛刺处理将切筋过程产生的毛刺及模封溢胶去除,然后在通过对电镀之后的引线框架中的芯片单元进行分离以及管脚成型处理。本发明通过在电镀步骤之前加入切筋步骤,并通过去毛刺步骤对切筋过程中产生的金属毛刺进行去除,进而避免金属毛刺残留到最终产品中,影响后期用户使用时可能造成短路的风险。
半导体封装结构及半导体封装结构的封装方法.pdf
本发明公开了一种半导体封装结构及半导体封装结构的封装方法,该封装结构包括导线架、单层基板、金属线路层以及半导体组件。所述导线架包括主体部、多个接垫以及未接触区域的补强区。所述单层基板位于所述导线架上且部分填入所述补强区内,所述单层基板设有第一通孔及第二通孔,所述第一通孔内形成第一导电柱且电连接所述主体部,所述第二通孔内形成第二导电柱且电连接所述接垫。所述金属线路层分布于所述单层基板表面上且与对应的所述第一及第二导电柱电连接。所述半导体组件设有焊接部,所述半导体组件由所述焊接部电连接于所述金属线路层上。
半导体封装模具、半导体器件及半导体器件的封装方法.pdf
本发明公开了一种半导体封装模具、半导体器件及半导体器件的封装方法。半导体封装方法包括提供封装基板,多个芯片堆叠于封装基板;将封装模具覆盖芯片,使芯片容纳腔容纳所有的芯片,且芯片容纳腔的轮廓表面形状与堆叠的芯片的轮廓表面形状相适应;通过注射孔向芯片容纳腔内部注入封装材料。芯片容纳腔与堆叠芯片的外轮廓表面相贴合使得后续形成的封装材料厚度较薄且均匀,避免了芯片和封装材料发生翘曲。
基于IDF引线框架的半导体产品的封装方法.pdf
本发明公开了基于IDF引线框架的半导体产品的封装方法,所述IDF引线框架包括N列芯片组,N≥1,相邻两列芯片组之间通过第一连接筋连接;每列芯片组包括两个芯片单元,每个芯片单元包括贴片区和管脚区,该两个芯片单元的管脚区的管脚之间交错排列、相邻管脚之间通过对应的第二连接筋连接;每个芯片单元的相邻管脚之间设置预设宽度的隐蔽管脚,隐蔽管脚的第一端固定在第二连接筋上,隐蔽管脚的第二端向芯片单元的贴片区延伸并与贴片区的边缘保留预设的间隙;通过在封装的切筋工艺中将隐蔽管脚同引线框架的连接筋一并切除,不仅解决了模封时模封
半导体封装产品的检测机.pdf
本发明公开了一种半导体封装产品的检测机,包括机架,检测机构,上料机构,活动流道取料机构,下料机构以及至少一组固定流道接料机构;检测机构用于检测产品的是否合格;上料机构用于支撑第一装料盒;活动流道取料机构与上料机构对接,用于夹取待检产品;固定流道接料机构的前端与活动流道取料机构的尾部对接,固定流道接料机构包括两平行设置的第二夹板,与活动流道取料机构尾部对接的吸料组件,设于吸附组件下游的第二抓取组件以及第二皮带轮组件;下料机构支撑第二装料盒,第二装料盒用于装载已检产品。本发明的优点是能够快速、准确地检测出产品