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(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN112129764A(43)申请公布日2020.12.25(21)申请号202011001183.0(22)申请日2020.09.22(71)申请人珠海市运泰利自动化设备有限公司地址519180广东省珠海市斗门区新青科技工业园内B型厂房(72)发明人熊志勇范建华曾成张晶(74)专利代理机构广州市红荔专利代理有限公司44214代理人王贤义何承鑫(51)Int.Cl.G01N21/88(2006.01)G01N21/01(2006.01)权利要求书2页说明书4页附图5页(54)发明名称偏振光源、表面缺陷检测方法和装置(57)摘要本发明提供了一种操作方便且能有效抑制高反光材料产品表面的强反光干扰的表面缺陷检测方法、表面缺陷检测装置及偏振光源。本发明设置偏振光源和表面缺陷检测装置,利用光的偏振特性消除高反光物体的镜面反射,但保留表面缺陷带来的散射光,通过成像模组获得若干偏振图像,再将这些偏振图像融合为一张包含有所有缺陷信息的图像,对图像进行缺陷检测算法分析计算,即得到该待测区域的缺陷检测结果;本发明采用偏振光高角度照明,从根本上解决了高反光的问题,因为光的偏振特性可以有效消除高反光物体的镜面反射,而无法消除表面缺陷带来的散射光,从而提高了缺陷区域的信噪比,降低机器视觉系统的漏检率。本发明可应用于测试领域。CN112129764ACN112129764A权利要求书1/2页1.一种偏振光源,其特征在于:它包括支架(1),在所述支架(1)上环绕均布有若干块灯板(2),每块所述灯板(2)上设置有若干灯源(3),在每块所述灯板(2)的所述灯源(3)的表面上方对应设置有第一偏振片(4),每块所述第一偏振片(4)分别与该块第一偏振片(4)对应设置的所述灯板(2)相平行,每块所述灯板(2)及所述第一偏振片(4)相对于水平面为倾斜设置。2.根据权利要求1所述的偏振光源,其特征在于:位于若干块所述灯板(2)环绕设置的中心位置处,所述支架(1)设置为中空。3.根据权利要求1所述的偏振光源,其特征在于:每块所述灯板(2)及所述第一偏振片(4)相对于水平面的倾斜角度为0°~90°。4.根据权利要求1所述的偏振光源,其特征在于:所述灯板(2)及所述第一偏振片(4)的数量均设置为八块,八块所述灯板(2)及所述第一偏振片(4)在360°空间内均匀连续分布。5.根据权利要求1所述的偏振光源,其特征在于:所述灯源(3)为LED灯珠,每块所述第一偏振片(4)的方向与对应的所述灯板(2)上的LED灯珠的光轴相垂直。6.根据权利要求1所述的偏振光源,其特征在于:每块所述灯板(2)上的所述灯源(3)由独立的开关控制开闭。7.根据权利要求1所述的偏振光源,其特征在于:所述灯板(2)及所述第一偏振片(4)呈等腰梯形,所述第一偏振片(4)为水平偏振片或者垂直偏振片。8.一种包含如权利要求2所述的偏振光源的表面缺陷检测装置,其特征在于:所述表面缺陷检测装置还包括第二偏振片(5)及成像模组(6),所述第二偏振片(5)设置在所述成像模组(6)的入射光路上,任意一块所述灯板(2)的灯源(3)工作时,与该灯板(2)项对应的所述第一偏振片(4)始终与所述第二偏振片(5)的偏振方向相互垂直,若干所述灯板(2)环绕一中心轴(a)设置,所述第二偏振片(5)设置在所述中心轴(a)上,所述成像模组(6)的光轴与所述中心轴(a)重合。9.根据权利要求8所述的表面缺陷检测装置,其特征在于:在若干所述灯板(2)的设置灯源的一侧设置有载物台(7),所述载物台(7)与所述中心轴相垂直且位于所述成像模组(6)的正下方,所述载物台(7)由XY轴移动模组带动在水平面上做平移运动,所述成像模组(6)的入射镜头正对所述载物台(7)设置。10.一种利用如权利要求9所述的表面缺陷检测装置对产品的表面进行缺陷检测的方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:a.将待测产品置于载物台(7)上并固定,通过所述XY轴移动模组驱动所述载物台(7)在水平方向上运动,使待测产品的待测区域位于所述中心轴上;b.依次开启若干所述偏振光源对待测产品的表面进行照射,每次开启一个偏振光源时,调节所述第二偏振片(5)的偏振角度与开启的所述偏振光源的所述第一偏振片(4)的偏振角度保持垂直;c.所述成像模组(6)在每个所述偏振光源启动一次时分别采集一幅偏振图像;d.将采集的各偏振态图像进行图像融合,得到一张包含待测产品的待测区域所有缺陷信息的多偏振态图像;e.对步骤d得到的图像进行缺陷检测算法分析计算,即得到该待测区域的缺陷检测结果;2CN112129764A权利要求书2/2页f.驱动所述载物台(7)在水平方向上运动,使待测产品的下一个待测区域位于所述中心轴上,重复步骤b~e,得到该待测