光源缺陷检测方法、装置、设备和存储介质.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN114155179A(43)申请公布日2022.03.08(21)申请号202010825318.9(22)申请日2020.08.17(71)申请人浙江宇视科技有限公司地址310051浙江省杭州市滨江区西兴街道江陵路88号10幢南座1-11层、2幢A区1-3楼、2幢B区2楼(72)发明人张曙光(74)专利代理机构北京品源专利代理有限公司11332代理人孟金喆(51)Int.Cl.G06T7/00(2017.01)G06T7/13(2017.01)G06T7/90(2017.01)G01M11/02(2006.01)权利要求书2页说明书9页附图3页(54)发明名称光源缺陷检测方法、装置、设备和存储介质(57)摘要本发明实施例公开了一种光源缺陷检测方法、装置、设备和存储介质。该光源缺陷检测方法包括：根据采集的光源图像确定图像中的光源的轮廓信息；根据轮廓信息确定光源图像中的目标区域；根据目标区域中的图像信息确定颜色差值信息；根据颜色差值信息确定光源图像中的光源缺陷检测结果。本发明实施例对采集到的光源图像进行光源轮廓信息确定，基于轮廓信息对目标区域中的颜色差值信息进行确定，颜色差值信息反映了光源的亮度缺陷，因此根据颜色差值信息可以得到光源缺陷检测结果。本发明实施例基于图像的颜色差值信息实现对光源缺陷的检测，通过对光源的本质颜色特征进行检测提高了光源缺陷检测的准确度和精度，并且简化了检测过程。CN114155179ACN114155179A权利要求书1/2页1.一种光源缺陷检测方法，其特征在于，包括：根据采集的光源图像确定图像中的光源的轮廓信息；根据所述轮廓信息确定所述光源图像中的目标区域；根据所述目标区域中的图像信息确定颜色差值信息；根据所述颜色差值信息确定光源图像中的光源缺陷检测结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述颜色差值信息包括如下至少一项：像素差值信息和通道差值信息；相应的，根据所述目标区域中的图像信息确定颜色差值信息，包括：根据所述目标区域中各像素点的三通道值与第一预设阈值的比较结果确定像素差值信息；和/或根据所述目标区域中各像素点的三通道值中任意两个通道值之间的差值与第二预设阈值的比较结果确定通道差值信息。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述轮廓信息包括轮廓面积和轮廓位置信息；相应的，根据所述轮廓信息确定所述光源图像中的目标区域，包括：根据所述轮廓位置信息确定轮廓质心位置；根据所述轮廓质心位置和所述轮廓面积确定轮廓的最大内接多边形，并将所述最大内接多边形确定为目标区域。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述轮廓信息包括轮廓面积；相应的，在根据采集的光源图像确定图像中的光源的轮廓信息之后，还包括：根据所述轮廓面积确定所述光源图像中的光源数量；得到所述光源数量和标准光源数量的数量比较结果；相应的，根据所述颜色差值信息确定光源图像中的光源缺陷检测结果，包括：根据所述颜色差值信息和所述数量比较结果确定光源图像中的光源缺陷检测结果。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在根据采集的光源图像确定图像中的光源的轮廓信息之前，还包括：对采集的光源图像进行滤波，得到滤波图像；对所述滤波图像进行二值化处理，得到二值图像；对所述二值图像进行腐蚀膨胀操作，得到膨胀图像；相应的，根据采集的光源图像确定图像中的光源的轮廓信息，包括：在所述膨胀图像中查找轮廓，得到图像中的光源的轮廓信息。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述滤波包括高斯滤波，并且高斯滤波的高斯核矩阵的长宽比根据所述光源图像的长宽比确定。7.根据权利要求1-6任一项所述的方法，其特征在于，所述光源图像采用焦外成像和/或光圈参数小于标准值的镜头采集得到。8.一种光源缺陷检测装置，其特征在于，包括：轮廓信息确定模块，用于根据采集的光源图像确定图像中的光源的轮廓信息；目标区域确定模块，用于根据所述轮廓信息确定所述光源图像中的目标区域；颜色差值信息确定模块，用于根据所述目标区域中的图像信息确定颜色差值信息；2CN114155179A权利要求书2/2页缺陷检测模块，用于根据所述颜色差值信息确定光源图像中的光源缺陷检测结果。9.一种设备，其特征在于，包括：一个或多个处理器；存储装置，用于存储一个或多个程序，当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1-7中任一所述的光源缺陷检测方法。10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1-7中任一所述的光源缺陷检测方法。3CN114155179A说明书1/9页光源缺陷检测方法、装置、设备和存储介质技术领域[0001]本发明实施例涉及图像处理技