激光打标的中心测量方法、装置、设备及存储介质.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN113020824A(43)申请公布日2021.06.25(21)申请号202110297765.6(22)申请日2021.03.19(71)申请人深圳晶森激光科技股份有限公司地址518000广东省深圳市南山区西丽街道白芒社区牛成村牛成路214号601(72)发明人赵本和马清梅黄敏庄丽涓张真(74)专利代理机构深圳市特讯知识产权代理事务所(普通合伙)44653代理人黄彧(51)Int.Cl.B23K26/70(2014.01)B23K26/362(2014.01)权利要求书3页说明书8页附图4页(54)发明名称激光打标的中心测量方法、装置、设备及存储介质(57)摘要本发明涉及激光打标领域，公开了一种激光打标的中心测量方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：获取第一矩形打标物的第一横坐标和第一纵坐标，以及根据第一横坐标和第一纵坐标，计算出第一矩形打标物对应的第一中心坐标；接收第一打标指令，根据第一中心坐标，调动激光射线进行激光打标处理，使激光射线停留在第一中心坐标处；获取第二矩形打标物的第二横坐标和第二纵坐标，以及根据第二横坐标和第二纵坐标，计算出第二矩形打标物对应的第二中心坐标；基于第二中心坐标与第一中心坐标的差值，调动激光射线移动至第二中心坐标处；接收第二打标指令，根据第二中心坐标，调动激光射线进行激光打标处理，使激光射线停留在第二中心坐标处。CN113020824ACN113020824A权利要求书1/3页1.一种激光打标的中心测量方法，第一矩形打标物和第二矩形打标物的相邻两边所在直线重合，其特征在于，包括步骤：获取第一矩形打标物的第一横坐标和第一纵坐标，以及根据所述第一横坐标和所述第一纵坐标，计算出所述第一矩形打标物对应的第一中心坐标；接收第一打标指令，根据所述第一中心坐标，调动激光射线进行激光打标处理，完成所述第一打标指令，并使所述激光射线停留在所述第一中心坐标处；获取第二矩形打标物的第二横坐标和第二纵坐标，以及根据所述第二横坐标和所述第二纵坐标，计算出所述第二矩形打标物对应的第二中心坐标；基于所述第二中心坐标与所述第一中心坐标的差值，调动所述激光射线移动至所述第二中心坐标处；接收第二打标指令，根据所述第二中心坐标，调动激光射线进行激光打标处理，完成所述第二打标指令，并使所述激光射线停留在所述第二中心坐标处。2.根据权利要求1所述的激光打标的中心测量方法，其特征在于，所述基于所述第二中心坐标与所述第一中心坐标的差值，调动所述激光射线移动至所述第二中心坐标处包括：将所述第二中心坐标的横坐标与所述第一中心坐标的横坐标进行相减，得到第一差值，以及将所述第二中心坐标的纵坐标与所述第二中心坐标的纵坐标进行相减，得到第二差值；根据所述第一差值和所述第二差值，对所述激光射线进行移动处理，使得所述激光射线移动至所述第二中心坐标处。3.根据权利要求1所述的激光打标的中心测量方法，其特征在于，所述获取第一矩形打标物的第一横坐标和第一纵坐标，以及根据所述第一横坐标和所述第一纵坐标，计算出所述第一矩形打标物对应的第一中心坐标包括：基于第一矩形打标物和第二矩形打标物的相邻两边建立直角坐标系；获取预置横坐标压力传感器的数据，分析得到第一矩形打标物的第一横坐标，并获取预置纵坐标压力传感器的数据，分析得到第一矩形打标物的第一纵坐标；对所述第一横坐标进行取半处理，得到第一取半横坐标，将所述第一取半横坐标确定为第一中心坐标的横坐标，以及对所述第一纵坐标进行取半处理，得到第一取半纵坐标，将所述第一取半纵坐标确定为第一中心坐标的纵坐标。4.根据权利要求3所述的激光打标的中心测量方法，其特征在于，所述获取第二矩形打标物的第二横坐标和第二纵坐标，以及根据所述第二横坐标和所述第二纵坐标，计算出所述第二矩形打标物对应的第二中心坐标包括：基于第一矩形打标物和第二矩形打标物的相邻两边建立直角坐标系；获取所述横坐标压力传感器的数据，分析得到第二矩形打标物的第二横坐标，并获取所述纵坐标压力传感器的数据，分析得到第二矩形打标物的第二纵坐标；对所述第二横坐标进行取半处理，得到取第二取半横坐标，将所述第二取半横坐标确定为第二中心坐标的横坐标，以及对所述第二纵坐标进行取半处理，得到第二取半纵坐标，将所述第二取半纵坐标确定为第二中心坐标的纵坐标。5.一种激光打标的中心测量装置，其特征在于，所述激光打标的中心测量装置包括：第一获取模块，用于获取第一矩形打标物的第一横坐标和第一纵坐标，以及根据所述2CN113020824A权利要求书2/3页第一横坐标和所述第一纵坐标，计算出所述第一矩形打标物对应的第一中心坐标；第一打标模块，用于接收第一打标指令，根据所述第一中心坐标，调动激光射线进行激光打标处理，完成所述第一打