影响TE5000干刻机刻蚀速率原因分析.docx
快乐****蜜蜂
在线预览结束,喜欢就下载吧,查找使用更方便
相关资料
影响TE5000干刻机刻蚀速率原因分析.docx
影响TE5000干刻机刻蚀速率原因分析标题:TE5000干刻机刻蚀速率的影响因素分析摘要:TE5000干刻机是一种常用的刻蚀设备,广泛应用于半导体制造和微纳加工领域。刻蚀速率是衡量干刻机性能的一个重要指标。本文通过对TE5000干刻机刻蚀速率的影响因素进行深入分析,包括物理因素、化学因素、工艺参数等,以期为优化刻蚀速率提供一定的指导。1.引言TE5000干刻机是一种常见的刻蚀设备,广泛应用于半导体制造和微纳加工领域。刻蚀速率是衡量干刻机性能的重要指标,影响半导体工艺的质量和效率。本文将重点探讨TE5000
干刻蚀电极及刻蚀机.pdf
本发明公布了一种包括相对放置的上部电极与下部电极,所述下部电极包括电极本体、电极凸台及遮蔽片,所述电极本体包括面对所述上部电极的第一表面,所述电极凸台突设于所述第一表面,所述遮蔽片设于所述第一表面且包围所述电极凸台,所述遮蔽片与所述电极凸台之间设有间隙,所述第一表面上设有沟槽,所述沟槽与所述电极凸台邻接,所述沟槽内填充第一隔离介质,所述间隙在所述第一表面上的正投影落入所述第一隔离介质范围内,所述第一隔离介质用于隔离等离子体与所述电极本体。杜绝了上部电极与下部电极之间异常放电或产生直流电压的现象发生,防止刻
干刻蚀方法.pdf
本发明公开了一种干刻蚀方法,涉及刻蚀工艺技术领域,主要目的是在含硅薄膜层刻蚀的过程中,不仅能够去除刻蚀残留,还能够减小对其他薄膜层的损伤,提高刻蚀质量。本发明的主要技术方案为:一种干刻蚀方法,包括:利用第一气体对含硅薄膜层刻蚀第一预设厚度;利用第二气体对所述含硅薄膜层刻蚀第二预设厚度,以消除所述含硅薄膜层中刻蚀掉所述第一预设厚度后产生的刻蚀残留;待所述刻蚀残留消除后,利用第一气体对含硅薄膜层刻蚀第三预设厚度,使所述第三预设厚度小于所述第一预设厚度;其中,所述第一气体包括氯气,所述第二气体包括氟化物气体。本
湿法刻蚀机及采用该刻蚀机进行刻蚀的方法.pdf
本发明提供一种湿法刻蚀机及采用该刻蚀机进行刻蚀的方法。该湿法刻蚀机包括刻蚀腔室,所述刻蚀腔室内设置有至少两个刻蚀层,各个所述刻蚀层由上至下依次层叠设置,且每一所述刻蚀层包括:用于放置及传送待刻蚀基板的第一传送载体以及设置于所述第一传送载体正上方、用于喷涂刻蚀药液的喷淋装置。采用该刻蚀机及其方法,能够解决现有技术的湿法刻蚀机,当生产工艺中需要总刻蚀时间大于基板不停留情况下的传送时间时,需要增加停留时间造成刻蚀的生产节拍降低,或者需要增加串联刻蚀腔室的个数,造成占地面积较大的问题。
硅微工艺湿法刻蚀常见材料刻蚀剂和刻蚀速率.pdf
各种材料的腐蚀剂和腐蚀速率材料腐蚀剂腐蚀速率SiHF+HNO+HO最大490um/min32SiONHF150g23℃时0.1μm/min24HF40%70mLHO150mL2SiN49%HF23℃LPCVDPECVD3485%HPO155℃8.0nm/min150.0-300.0nm/min3485%HPO180℃1.5nm/min10.0-20.0nm/min3412.0nm/min60.0-100.0nm/min多晶硅HF6mL800nm/min,边缘平整HNO100mL3HO40mL2HF1mL1