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基于FPGA的混合电路边界扫描测试系统的研究与设计的开题报告
一、研究背景及意义
随着现代电子技术的快速发展，微电子芯片的集成度和复杂性不断提高，其测试难度随之增加。边界扫描测试技术是当前集成电路测试的主流方法之一，该技术可以有效地检测芯片上的故障，提高测试效率和可靠性。然而，传统的边界扫描测试系统存在测试速度慢、测试覆盖率低的问题，难以满足现代集成电路测试的需求。
FPGA（FieldProgrammableGateArray）是一种可编程逻辑器件，具有高速、低功耗、灵活性等特点，广泛应用于数字电路设计和测试领域。混合电路边界扫描测试技术将边界扫描测试与FPGA结合起来，利用FPGA的可编程性和高速性能降低测试时间，提高测试覆盖率。因此，基于FPGA的混合电路边界扫描测试系统的研究与设计具有重要的意义。
二、研究内容和研究方法
本研究将设计基于FPGA的混合电路边界扫描测试系统，主要包括以下内容：
1.建立边界扫描测试模型
分析边界扫描测试原理，建立测试模型，设计测试用例并使用VHDL语言描述测试模型。
2.设计测试系统架构
依据测试模型，设计FPGA测试系统架构，包括数据采集模块、测试控制模块、故障检测模块等。
3.开发测试程序
基于VC++开发测试程序，实现测试流程控制、数据处理与显示等功能。
4.实现系统集成
将测试程序烧录到FPGA上，与PC机通过USB接口通信，实现测试系统的集成与控制。
研究方法主要包括实验研究和仿真分析方法，通过实验验证系统的性能和可行性，并通过仿真分析系统性能和测试覆盖率。
三、预期成果
本研究的预期成果包括：
1.建立基于FPGA的混合电路边界扫描测试模型。
2.设计测试系统架构，实现测试程序开发。
3.实现测试系统集成，并进行测试性能实验与仿真分析。
4.撰写论文，发表学术论文。
四、研究进度安排
第一年：
1.研究FPGA的基本原理和应用。
2.深入学习边界扫描测试技术，并建立边界扫描测试模型。
3.设计FPGA测试系统的架构，实现数据采集、控制和故障检测等功能。
第二年：
1.开发测试程序，实现测试程序流程控制、数据处理和显示等功能。
2.测试系统集成，并进行性能测试。
3.撰写论文、准备学位论文答辩。
五、参考文献
1.BrianBailey,MarkNewton.Boundary-ScanHandbook.McGraw-HillCompanies,Inc.,2002.
2.KiaBazargan,DennisHawkins.TestandDesign-for-TestabilityinMixed-SignalIntegratedCircuits.JohnWiley&Sons,Inc.,2004.
3.XiangyuZhang.High-levelandefficientmethodsfortestingdigitalcircuits[C].IEEEInternationalConferenceonComputerDesign,ICCD,2008:388-395.
4.ChenxiZhang,XiaoweiLi,KekeTang.AHybridBISTSolutionforMixed-SignalCircuits[C].InternationalConferenceonMeasuringTechnologyandMechatronicsAutomation,ICMTMA,2010:54-57.
6.WangQiliang,ZhuWei,ChenXianzhang,etal.AnFPGA-BasedBuilt-inself-testschemeformixed-signalcircuit[C].IEEEInternationalConferenceonElectronics,CircuitsandSystems,ICECS,2011:681-684.