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JTAG边界扫描在FPGA中的应用及电路设计的开题报告
一、选题背景
随着FPGA在工业控制、航空航天、新能源等领域的广泛应用，对FPGA的测试和调试技术提出了更高的要求。作为主流FPGA测试和调试方法，JTAG（JointTestActionGroup）边界扫描技术已经成为了FPGA测试和调试中重要的手段之一。JTAG边界扫描技术通过一系列的扫描方式完成对FPGA芯片的测试和调试，为FPGA芯片的设计和调试提供了极大的方便性和灵活性。
二、论文目的
本文选取JTAG边界扫描作为研究课题，探究JTAG边界扫描在FPGA设计中的应用及其电路设计。主要研究内容包括：介绍JTAG边界扫描技术的原理；探究JTAG边界扫描在FPGA设计中的应用；研究JTAG边界扫描电路设计的关键技术；通过实验验证研究结果的有效性。
三、论文内容
1.JTAG边界扫描技术的原理及应用。
2.JTAG边界扫描在FPGA设计中的应用及优点分析。
3.JTAG边界扫描电路设计的原理与关键技术分析与研究，包括电路框架设计、时序分析、扫描链加入维护及SPG控制等。
4.实验部分，通过构建JTAG边界扫描电路实现其在FPGA测试和调试中的应用。通过实验验证研究结果的有效性。
四、参考文献
[1]ZhouDishan.面向FPGA的JTAG边界扫描技术研究[D].浙江大学,2014.
[2]张鑫.基于JTAG边界扫描的FPGA验证技术研究[D].天津大学,2017.
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