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基于USB与FPGA的边界扫描测试卡研究的开题报告
一、选题的背景和意义
现代电子产品的复杂性和功能要求越来越高，因此电路板的测试变得尤为重要。在这个过程中，边界扫描技术是一种非常有效的测试技术，可以帮助测试人员在产品设计、制造和维修的过程中快速诊断出电路板上的错误，提高设备的可靠性和生产效率。
针对边界扫描技术，测试卡是执行测试的关键工具。测试卡复杂度低，代码规模小，且不需要复杂的操作流程，因此成为最理想的的测试方式之一。目前市场上的测试卡大多是基于JTAG（IEEE1149.1）标准设计的，该标准可以提供一个通用检测接口和一种交互式测试方法。
本课题旨在设计和开发一种基于USB和FPGA的边界扫描测试卡，具有高效性和灵活性，并与当前市场上的测试卡相比更为实用。
二、研究内容和技术路线
在这个项目中，我们将主要关注以下内容：
1.测试卡设计：开发基于JTAG边界扫描技术的测试卡，实现快速测试电路板。并通过FPGA设计边界扫描测试缓冲区、MISR等模块，并将这些模块与USB接口连接起来从而达到测试电路板目的。
2.测试软件开发：利用USB接口与测试卡进行通信，设计一个高效的测试软件，用于实现测试卡与PC上段的数据交互。
3.测试样品设计：根据测试卡所需的测试信号，设计测试样品来验证和调试测试卡和测试软件。
技术路线：
1.硬件设计：设计基于USB和FPGA的边界扫描测试卡，利用FPGA实现边界扫描测试缓冲区、MISR等模块，并与USB接口相连接。同时选择合适的外围硬件器件来支持测试卡的运行。
2.软件设计：设计测试软件，通过该软件控制测试卡，实现测试卡与PC上段的数据交互，并输出测试结果。
3.测试样品设计：设计测试样品，通过该样品验证和调试测试卡和测试软件。
三、研究进展
目前，我们已经完成了测试卡的设计，并选择适合的FPGA和USB芯片。同时，我们正在进行测试软件的设计，以实现测试卡与PC上段的高效数据交互和测试结果输出。
四、预期成果
1.设计一种高效、灵活、易于使用的测试卡，用于边界扫描测试。
2.开发测试软件，用于测试卡和PC上段的数据交互，同时实现测试结果输出。
3.设计测试样品，用于测试卡和测试软件的验证和调试。
五、研究难点
本项目中，主要的研究难点包括如何设计一个高效的测试卡和测试软件，并如何实现测试卡与PC上段的高效数据交互和测试结果的输出。同时，还需要考虑如何验证和调试测试卡和测试软件以保证测试结果的可靠性和准确性。
六、结论
本项目旨在设计一种基于USB和FPGA的边界扫描测试卡，能够快速、高效地测试电路板。通过研究边界扫描测试技术和JTAG标准，我们将开发一种高效、灵活、易于使用的测试卡，并提供相应的测试软件和测试样品用于验证和调试，以实现测试卡与PC上段的高效数据交互和测试结果输出。