印刷电路板图像轮廓提取方法及装置.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN109472271A(43)申请公布日2019.03.15(21)申请号201811296385.5(22)申请日2018.11.01(71)申请人凌云光技术集团有限责任公司地址100094北京市海淀区翠湖南环路13号院7号楼7层701室(72)发明人赵敏姚毅刘士清李宝同(74)专利代理机构北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙)11363代理人逯长明许伟群(51)Int.Cl.G06K9/46(2006.01)G06K9/32(2006.01)权利要求书3页说明书11页附图12页(54)发明名称印刷电路板图像轮廓提取方法及装置(57)摘要本申请实施例提供了一种印刷电路板轮廓提取方法及装置，方法包括：将原始灰度图像进行二值化处理，输出二值化灰度图像，利用LOG算子对二值化灰度图像进行卷积处理，得到与像素点相对应的卷积数据，判断卷积数据的值是否为零，如果为零，确定与卷积数据对应的像素点为边缘点；如果不为零，利用亚像素点插值法计算得到与卷积数据对应的亚像素边缘点，利用Sobel算子计算边缘点和亚像素边缘点的梯度和幅值，根据边缘点、亚像素边缘点、边缘点的梯度和幅值以及亚像素边缘点的梯度和幅值，得出原始灰度图像的轮廓。本申请实施例提供的印刷电路板图像轮廓提取方法，能够提高亚像素提取的精度，对于细微细节部分的轮廓检测更稳定，减少漏检与无检测的发生。CN109472271ACN109472271A权利要求书1/3页1.一种印刷电路板图像轮廓提取方法，其特征在于，所述方法包括：获取原始灰度图像；将所述原始灰度图像进行二值化处理，输出二值化灰度图像；利用LOG算子对所述二值化灰度图像进行卷积处理，得到与像素点相对应的卷积数据；判断所述卷积数据的值是否为零，如果为零，确定与所述卷积数据对应的像素点为边缘点；如果不为零，利用亚像素点插值法计算得到与所述卷积数据对应的亚像素边缘点；利用Sobel算子计算所述边缘点的梯度和幅值，根据所述边缘点的梯度和幅值确定落在所述边缘点的所述亚像素边缘点的梯度和幅值；根据所述边缘点、所述亚像素边缘点、所述边缘点的梯度和幅值以及所述亚像素边缘点的梯度和幅值，得出所述原始灰度图像的轮廓。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述原始灰度图像进行二值化处理，输出二值化灰度图像包括：获取低阈值和高阈值；判断低阈值和高阈值的大小关系；获取所述像素点的灰度值以及所述像素点3*3邻域内的所有邻域像素点的灰度值；判断所述邻域像素点的灰度值与低阈值和高阈值的大小关系；根据低阈值和高阈值的大小关系和所述邻域像素点的灰度值与低阈值和高阈值的大小关系，确定所述像素点的灰度值，包括：如果低阈值小于或等于高阈值，根据所述邻域像素点的灰度值与低阈值和高阈值的大小关系，确定所述像素点的灰度值，包括：如果所述领域像素点的灰度值均小于低阈值，所述像素点的灰度值取值为1，如果所述领域像素点的灰度值均大于高阈值，所述像素点的灰度值取值为254，否则，保持所述像素点的灰度值不变；如果低阈值大于高阈值，定义两个初始化变量bInLow和bInHigh，且初始化为假，根据所述邻域像素点的灰度值与低阈值和高阈值的大小关系，确定所述像素点的灰度值，包括：如果所述领域像素点的灰度值均小于低阈值，标记bInLow为真，如果所述领域像素点的灰度值均大于高阈值，标记bInHigh为真；如果bInLow为真且bInHigh为否，所述像素点的灰度值取值为1，如果bInLow为否且bInHigh为真，所述像素点的灰度值取值为254，否则，保持所述像素点的灰度值不变。3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用LOG算子对所述二值化灰度图像进行卷积处理，得到LOG卷积标记结果，包括：根据卷积模板使用卷积公式对所述二值化灰度图像进行卷积处理；其中，所述卷积模板为：4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用亚像素点插值法计算得到与所述卷2CN109472271A权利要求书2/3页积数据对应的亚像素边缘点，包括：判断所述卷积数据为负值的像素点的向上、向下、向左以及向右四个方向上是否存在所述卷积数据为正值的像素点，如果存在所述卷积数据为正值的像素点，根据所述卷积数据为负值的像素点和所述卷积数据为正值的像素点利用亚像素点插值法计算得到与所述卷积数据对应的亚像素边缘点；判断所述卷积数据为负值的像素点的向上、向下、向左以及向右四个方向上是否存在多个所述卷积结果为正值的像素点，如果存在多个所述卷积结果为正值的像素点，分别计算得到多个与所述卷积数据对应的亚像素点，取多个与所述卷积数据对应的亚像素点的平均值为与所述卷积数据对应的亚像素边缘点；判断所述卷积数据为正值的像素点是否存在落在所述卷积数据为正值的像素点