一种印刷电路板图像的轮廓提取方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局*CN102496161A*(12)发明专利申请(10)申请公布号CN102496161A(43)申请公布日2012.06.13(21)申请号201110415349.8(22)申请日2011.12.13(71)申请人浙江欧威科技有限公司地址325000浙江省温州市高新技术产业园区10号小区三期3号楼501室(72)发明人张方德贺兴志钟靖(74)专利代理机构温州金瓯专利事务所(普通合伙)33237代理人黄肇平(51)Int.Cl.G06T7/00(2006.01)权利要求书权利要求书1页1页说明书说明书55页页附图附图55页(54)发明名称一种印刷电路板图像的轮廓提取方法(57)摘要本发明要解决的技术问题是提供一种印刷电路板图像的轮廓提取方法，避免现有轮廓提取方法在提取PCB图像轮廓时不准确的缺陷，增强了轮廓检测的准确性和稳定性，进而提高了工作效率。该方法包括以下步骤：1）获取印刷电路板的原始图像；2）高斯拉普拉斯算子处理：利用高斯拉普拉斯算子对原始图像进行处理，得到经处理后的高斯拉普拉斯图像；3）梯度算子突变处理：利用梯度算子对原始图像进行处理，得到经梯度算子突变处理后的梯度图像；4）利用高低双阈值对原始图像求取二值图像，并得到二值图像；5）建立亚像素轮廓点的坐标图：根据二值图像的边界首先确定轮廓的像素位置，然后根据所述轮廓相应方向上的高斯拉普拉斯值、像素值、梯度值，求出亚像素轮廓点的坐标；6）连接亚像素轮廓点形成轮廓：根据所述步骤5）得到的亚像素轮廓点的坐标，把亚像素轮廓点连接成有一定顺序的集合形式。CN102496ACN102496161A权利要求书1/1页1.一种印刷电路板图像的轮廓提取方法，该方法包括以下步骤：1）获取印刷电路板的原始图像；2）高斯拉普拉斯算子处理：利用高斯拉普拉斯算子对原始图像进行处理，得到经处理后的高斯拉普拉斯图像；3）梯度算子突变处理：利用梯度算子对原始图像进行处理，得到经梯度算子突变处理后的梯度图像；4）利用高低双阈值对原始图像求取二值图像，并得到二值图像；5）建立亚像素轮廓点的坐标图：根据二值图像的边界首先确定轮廓的像素位置，然后根据所述轮廓相应方向上的高斯拉普拉斯值、像素值、梯度值，求出亚像素轮廓点的坐标；6）连接亚像素轮廓点形成轮廓：根据所述步骤5）得到的亚像素轮廓点的坐标，把亚像素轮廓点连接成有一定顺序的集合形式。2.根据权利要求1所述的轮廓提取方法，其特征在于，在步骤2）中，所述高斯拉普拉斯算子处理是利用高斯拉普拉斯算子对原始图像进行平滑处理和锐化处理。3.根据权利要求1所述的轮廓提取方法，其特征在于，在步骤4）中，所述求取二值图像的步骤为：先利用高低双阈值进行判断，对于8邻域都大于高阈值的像素为白，对于8邻域都小于低阈值的像素为黑，其他像素做下面的处理：其梯度值超过设定的容差为白，否则再判断其所在像素的拉普拉斯值，如果大于0，该像素为白，否则为黑。4.根据权利要求1所述的轮廓提取方法，其特征在于，在步骤5）中，亚像素轮廓点的计算分为两种形式，一种是有零交叉，一种是非零交叉。5.根据权利要求4所述的轮廓提取方法，其特征在于，在步骤5）中，如果该像素位置是零交叉位置的像素，就根据高斯拉普拉斯值求取亚像素轮廓点的位置；如果该像素是非零交叉位置的像素，则根据像素值、梯度值求取亚像素轮廓点的位置。6.根据权利要求5所述的轮廓提取方法，其特征在于，在步骤5）中得到亚像素轮廓点的位置之后，对亚像素轮廓点进行设置形成轮廓缓冲图，所述轮廓缓冲图是由N个单元构成，N为边界点的个数，每个单元为四个像素，所述每个单元的格式设置包括单元类型、当前列坐标、单元右列的亚像素纵坐标以及单元底行的亚像素横坐标。7.根据权利要求1所述的轮廓提取方法，其特征在于，在步骤6）中得到的轮廓缓冲图分为外轮廓缓冲图和内轮廓缓冲图两种形式，通过所述轮廓的周长、面积、外包框、闭合还是开放等属性确定。2CN102496161A说明书1/5页一种印刷电路板图像的轮廓提取方法技术领域[0001]本发明涉及一种印刷电路板图像的轮廓提取方法，属于计算机视觉技术领域。背景技术[0002]现有技术中，常利用轮廓检测来计算一些精密工件的外形及质量，如车身的检测、精密加工零件检测等。目前，提取印制线路板图像的轮廓是PCB（PrintedCircuitBoard，印刷电路板）-AOI（自动光学检测）的一个重要问题，其精度直接影响到AOI的性能指标。本发明提出了一种新的应用于印刷电路板行业的智能轮廓提取算法。[0003]传统的边缘检测方法无法有效的检测出PCB图像中的所有缺陷轮廓，从而造成PCB-AOI漏测的发生。轮廓提取方法非常多，各有各的优点，但是目前还没有一种完全适合PCB缺陷图像轮廓提取的方法。基于不连续性的