一种位姿检测方法、系统及装置.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN110175999A(43)申请公布日2019.08.27(21)申请号201910464937.7G06K9/46(2006.01)(22)申请日2019.05.30(71)申请人广东工业大学地址510060广东省广州市越秀区东风东路729号大院(72)发明人管贻生张凯富黎奕辉黄岩林一炯张兆龙刘均发(74)专利代理机构北京集佳知识产权代理有限公司11227代理人罗满(51)Int.Cl.G06T7/00(2017.01)G06T7/136(2017.01)G06T7/187(2017.01)G06T7/70(2017.01)权利要求书2页说明书7页附图2页(54)发明名称一种位姿检测方法、系统及装置(57)摘要本申请公开了一种位姿检测方法，包括接收异形电子元件的图像与PCB板的图像；对所述异形电子元件的图像及所述PCB板的图像进行预处理得到目标对象；对所述目标对象进行特征筛选得到特征集；对所述特征集中的连通域进行边缘轮廓拟合，并根据边缘轮廓拟合后的连通域计算得到所述异形电子元件及所述PCB板的位姿。该位姿检测方法能够准确高效检测异形电子元件以及PCB板的位姿，为异形电子元件插装提供准确的数据基础。本申请还公开了一种位姿检测系统、装置以及计算机可读存储介质，均具有上述技术效果。CN110175999ACN110175999A权利要求书1/2页1.一种位姿检测方法，其特征在于，包括：接收异形电子元件的图像与PCB板的图像；对所述异形电子元件的图像及所述PCB板的图像进行预处理得到目标对象；对所述目标对象进行特征筛选得到特征集；对所述特征集中的连通域进行边缘轮廓拟合，并根据边缘轮廓拟合后的连通域计算得到所述异形电子元件及所述PCB板的位姿。2.根据权利要求1所述的位姿检测方法，其特征在于，所述对所述异形电子元件的图像及所述PCB板的图像进行预处理得到目标对象，包括：对所述异形电子元件的图像及所述PCB板的图像进行滤波处理；对滤波处理后的异形电子元件的图像及PCB板的图像进行阴影矫正处理；对阴影矫正处理后的异形电子元件的图像及PCB板的图像进行阈值分割处理得到所述目标对象。3.根据权利要求2所述的位姿检测方法，其特征在于，对所述PCB板的图像进行预处理得到的所述目标对象包括PCB孔。4.根据权利要求3所述的位姿检测方法，其特征在于，所述对所述异形电子元件的图像及所述PCB板的图像进行滤波处理，包括：通过高斯滤波的方式对所述异形电子元件的图像及所述PCB板的图像进行滤波处理。5.根据权利要求4所述的位姿检测方法，其特征在于，所述对滤波处理后的异形电子元件的图像及PCB板的图像进行阴影矫正处理，包括：通过图像相除的方式对滤波处理后的异形电子元件的图像及PCB板的图像进行阴影矫正处理。6.根据权利要求5所述的位姿检测方法，其特征在于，所述对所述目标对象进行特征筛选得到特征集，包括：基于连通域面积、连通域矩形度以及连通域圆形度对阈值分割处理后的异形电子元件的图像及PCB板的图像上的连通域进行特征筛选得到所述特征集。7.根据权利要求6所述的位姿检测方法，其特征在于，所述对所述特征集中的连通域进行边缘轮廓拟合，包括：通过亚像素级边缘轮廓拟合算法对所述特征集中的连通域进行边缘轮廓拟合。8.一种位姿检测系统，其特征在于，包括：图像接收模块，用于接收异形电子元件的图像与PCB板的图像；图像预处理模块，用于对所述异形电子元件的图像及所述PCB板的图像进行预处理得到目标对象；特征筛选模块，用于对所述目标对象进行特征筛选得到特征集；边缘轮廓拟合模块，对所述特征集中的连通域进行边缘轮廓拟合，并根据边缘轮廓拟合后的连通域计算得到所述异形电子元件及所述PCB板的位姿。9.一种位姿检测装置，其特征在于，包括：存储器，用于存储计算机程序；处理器，用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7任一项所述的位姿检测方法的步骤。2CN110175999A权利要求书2/2页10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的位姿检测方法的步骤。3CN110175999A说明书1/7页一种位姿检测方法、系统及装置技术领域[0001]本申请涉及异形电子元件自动化插装技术领域，特别涉及一种位姿检测方法；还涉及一种位姿检测系统、装置以及计算机可读存储介质。背景技术[0002]异形电子元件自动化插装领域，异形电子元件精确定位与纠偏是实现高效可靠自动化插装的关键。目前，定位纠偏方式包括机械定位纠偏与视觉定位纠偏。较之机械定位纠偏，视觉定位纠偏具有更高精度、更快速度。在视觉定位纠偏过程中，原图像在经过一系列图像处理后，得到异