半导体器件-半导体工艺介绍-薄膜淀积.ppt
kp****93
亲,该文档总共22页,到这已经超出免费预览范围,如果喜欢就直接下载吧~
相关资料
半导体器件-半导体工艺介绍-薄膜淀积.ppt
半导体工艺简介薄膜淀积(沉积)二种薄膜沉积工艺化学气相沉积装置金属有机化学气相沉积(Metalorganicchemicalvapordeposition)作为有机化合物原料必须满足的条件:a)在常温左右较稳定,且容易处理。b)反应生成的副产物不应妨碍晶体生长,不应污染生长层。c)为了适应气相生长,在室温左右应有适当的蒸气压(≥1Torr)。原料的优点:这类化合物在较低的温度即呈气态存在,避免了液态金属蒸发的复杂过程。MOCVD综合评价:MOCVD设备相对其他设备价格要贵,不光是设备本身贵而且维护费用也贵
现代半导体器件物理与工艺薄膜淀积.ppt
薄膜淀积薄膜淀积热氧化生长机制硅热氧化的基本模型薄氧化膜生长介质淀积二氧化硅-淀积法二氧化硅-特性二氧化硅-台阶覆盖二氧化硅-磷硅玻璃回流氮化硅低介电常数材料-LowK650500350250180130100低介电常数材料高介电参数材料-HighK高介电常数材料多晶硅淀积金属化物理气相沉积-PVD化学气相沉积-CVD铝镀膜电迁移铜镀膜嵌入技术使用双层嵌入法作铜导线的工艺顺序化学机械抛光-CMP金属硅化物
半导体器件半导体工艺掺杂.pptx
掺杂工艺目的扩散扩散形成的掺杂区和结扩散工艺步骤扩散方式淀积工艺受控制或约束的因素淀积工艺受控制或约束的因素扩散源扩散源扩散源2、推进氧化drive-in-oxidation氧化的影响离子注入离子注入概念离子注入系统离子注入系统离子注入系统束流聚焦:离开加速管后,束流由于相同电荷的排斥作用而发散。发散导致离子密度不均匀和晶体掺杂不均一。成功的离子注入,束流必须聚焦。静电或磁透镜用于将离子束聚焦为小尺寸束流或平行束流。束流中和:尽管真空去除了系统中大部分空气,但是束流附近还是有些残存的气体分子。离子和这些气
半导体器件工艺方法.pdf
本发明公开了一种半导体器件的工艺方法,基于存在台阶的多晶硅刻蚀,在沉积多晶硅之前,先在具有台阶的薄膜表面沉积一层介质层,然后在介质层刻蚀之后再沉积多晶硅层。本发明所述的半导体器件的工艺方法,针对台阶状表面刻蚀工艺时在台阶角落存在刻蚀残留的问题,先形成一次其他介质层的斜坡将台阶角落充填,然后再沉积相应的薄膜,对薄膜刻蚀的时候由于台阶已被斜坡填充,薄膜的刻蚀更加彻底,解决了刻蚀残留的问题。
半导体器件与工艺(3).ppt
双极型晶体管双极型晶体管双极型晶体管双极型晶体管双极型晶体管双极型晶体管双极型晶体管双极型晶体管双极型晶体管双极型晶体管双极型晶体管双极型晶体管晶体管的直流电流放大系数晶体管电流放大系数和电流放大能力(2)共射极直流电流放大系数共发射极电路是用去控制以实现电流放大的。晶体管电流放大系数和电流放大能力(3)与的关系晶体管电流放大系数和电流放大能力(4)晶体管具有放大能力所满足的条件(以NPN管为例)①发射区高掺杂能发射大量电子;②基区低掺杂且基区宽度