缺陷检测方法、装置及计算机可读存储介质.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN113628161A(43)申请公布日2021.11.09(21)申请号202110763937.4G06T7/194(2017.01)(22)申请日2021.07.06(71)申请人深圳市格灵精睿视觉有限公司地址518064广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区高新南环路46号留学生创业大厦二期2层南区(72)发明人杨延竹彭明张旭堂张华于波(74)专利代理机构广州嘉权专利商标事务所有限公司44205代理人洪铭福(51)Int.Cl.G06T7/00(2017.01)G06T7/11(2017.01)G06T7/136(2017.01)权利要求书2页说明书6页附图3页(54)发明名称缺陷检测方法、装置及计算机可读存储介质(57)摘要本申请公开了一种缺陷检测方法、装置及计算机可读存储介质。本申请提供的缺陷检测方法包括：获取光器件中滤光片所在位置的初始图像；对初始图像进行预处理，得到待分割图像；对待分割图像进行前景分割处理，得到目标图像；根据预设的标准模板信息对目标图像进行缺陷检测分析，得到缺陷检测结果。本申请提供的缺陷检测方法提高了缺陷检测的效率和准确度。CN113628161ACN113628161A权利要求书1/2页1.缺陷检测方法，其特征在于，包括：获取光器件中滤光片所在位置的初始图像；对所述初始图像进行预处理，得到待分割图像；对所述待分割图像进行前景分割处理，得到目标图像；根据预设的标准模板信息对所述目标图像进行缺陷检测分析，得到缺陷检测结果。2.根据权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述根据预设的标准模板信息对目标图像进行缺陷检测分析，得到缺陷检测结果，包括：根据所述预设的标准模板信息对所述目标图像进行分析，得到色彩分析结果；根据所述色彩分析结果对目标图像进行缺陷检测分析，得到缺陷检测结果。3.根据权利要求2所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述缺陷检测结果至少包括位置及姿态检测结果、BLOB检测结果，所述根据所述色彩分析结果对目标图像进行缺陷检测分析，得到缺陷检测结果，包括：对所述目标图像进行位置及姿态计算，得到所述位置及姿态检测结果；对所述目标图像进行BLOB分析，得到所述BLOB检测结果。4.根据权利要求3所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述BLOB检测结果至少包括贴翘情况检测结果，所述对所述目标图像进行BLOB分析，得到所述BLOB检测结果，包括：对所述目标图像进行贴翘情况检测，得到所述贴翘情况检测结果。5.根据权利要求3所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述BLOB检测结果至少包括断胶情况检测结果、脏污情况检测结果、胶情况检测结果，所述对所述目标图像进行BLOB分析，得到所述BLOB检测结果，还包括：对所述目标图像进行点胶区域分割处理，得到所述断胶情况检测结果；对所述目标图像进行二值化处理，得到所述脏污情况检测结果；对所述目标图像进行交补运算处理，得到所述溢胶情况检测结果。6.根据权利要求1至5任意一项所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述缺陷检测方法，还包括：根据所述缺陷检测结果生成所述光器件对应的产品下料方案。7.根据权利要求6所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述产品下料方案包括良品下料方案、不良品下料方案，所述根据所述缺陷检测结果生成所述光器件对应的产品下料方案，包括：若所述缺陷检测结果为所述光器件存在缺陷，则生成不良品下料方案；若所述缺陷检测结果为所述光器件不存在缺陷，则生成良品下料方案。8.缺陷检测装置，其特征在于，包括：初始图像获取模块，用于获取光器件中滤光片所在位置的初始图像；预处理模块，用于对所述初始图像进行预处理，得到待分割图像；前景分割模块，用于对所述待分割图像进行前景分割处理，得到目标图像；缺陷检测模块，用于根据预设的标准模板信息对所述目标图像进行缺陷检测分析，得到缺陷检测结果。9.缺陷检测装置，其特征在于，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现：2CN113628161A权利要求书2/2页如权利要求1至7任一项所述的缺陷检测方法。10.计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于：执行权利要求1至7任一项所述的缺陷检测方法。3CN113628161A说明书1/6页缺陷检测方法、装置及计算机可读存储介质技术领域[0001]本申请涉及但不限于计算机领域，尤其是涉及一种缺陷检测方法、装置及计算机可读存储介质。背景技术[0002]滤光片是众多现代光器件的核心组成部分，光器件滤光片的缺陷对光器件通光率有着致命性的影响，因此光器件滤光片的缺陷检测就显得尤为重要。在光器件滤光片的生产过程中，不可避免地会出现各