屏幕损伤缺陷检测方法、装置、设备及可读存储介质.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN114264669A(43)申请公布日2022.04.01(21)申请号202210203559.9(22)申请日2022.03.03(71)申请人武汉精立电子技术有限公司地址430205湖北省武汉市东湖新技术开发区流芳园南路22号申请人武汉精测电子集团股份有限公司(72)发明人毛涌王雷李渊江宝焜(74)专利代理机构武汉智权专利代理事务所(特殊普通合伙)42225代理人张凯(51)Int.Cl.G01N21/95(2006.01)G01N21/01(2006.01)权利要求书2页说明书9页附图3页(54)发明名称屏幕损伤缺陷检测方法、装置、设备及可读存储介质(57)摘要本申请涉及一种屏幕损伤缺陷检测方法、装置、设备及可读存储介质，涉及屏幕缺陷检测技术领域，包括获取第一图像和第二图像，第一图像为屏幕在视觉光源下被拍摄的图像，第二图像为屏幕自发光后被拍摄的图像；分别对第一图像和第二图像进行可疑缺陷区域的标识处理，得到处理后的第一图像和第二图像；将处理后的第二图像映射至处理后的第一图像上，在处理后的第一图像上提取与处理后的第二图像上的可疑缺陷区域存在交集的第一可疑缺陷区域；当检测到第一可疑缺陷区域的特征值大于预设的目标缺陷特征阈值时，则第一可疑缺陷区域为目标缺陷。本申请不仅可提高对缺陷的提取精度，还可有效降低检测难度和成本并缩短检测耗时。CN114264669ACN114264669A权利要求书1/2页1.一种屏幕损伤缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：获取第一图像和第二图像，所述第一图像为待测屏幕在视觉光源下被拍摄的图像，所述第二图像为待测屏幕自发光后被拍摄的图像；分别对所述第一图像和所述第二图像进行可疑缺陷区域的标识处理，得到处理后的第一图像和处理后的第二图像；将所述处理后的第二图像映射至所述处理后的第一图像上，在所述处理后的第一图像上提取与所述处理后的第二图像上的可疑缺陷区域存在交集的第一可疑缺陷区域；当检测到第一可疑缺陷区域的特征值大于预设的目标缺陷特征阈值时，则所述第一可疑缺陷区域为目标缺陷。2.如权利要求1所述的屏幕损伤缺陷检测方法，其特征在于，对所述第一图像进行可疑缺陷区域的标识处理，得到处理后的第一图像，包括：对所述第一图像中的各个白色区域进行提取，得到多个第一区域；对所述多个第一区域进行闭运算，得到第二区域，并对所述第二区域进行随机打散处理，得到多个第二子区域；基于预设的目标缺陷特征信息从多个第二子区域筛选出存在可疑的第二子区域，将存在可疑的第二子区域作为可疑缺陷区域；在所述第一图像进行可疑缺陷区域的标识，得到处理后的第一图像。3.如权利要求1所述的屏幕损伤缺陷检测方法，其特征在于，对所述第二图像进行可疑缺陷区域的标识处理，得到处理后的第二图像，包括：对均值滤波处理后的第二图像中的各个白色区域进行提取，得到多个第三区域；对所述多个第三区域进行闭运算，得到第四区域，并对所述第四区域进行随机打散处理，得到多个第四子区域；基于预设的目标缺陷特征信息从多个第四子区域筛选出存在可疑的第四子区域，将存在可疑的第四子区域作为可疑缺陷区域；在所述第二图像进行可疑缺陷区域的标识，得到处理后的第二图像。4.如权利要求1所述的屏幕损伤缺陷检测方法，其特征在于，所述将所述处理后的第二图像映射至所述处理后的第一图像上，包括：分别对所述处理后的第一图像和所述处理后的第二图像进行同比例的转正和缩放处理，并将所述处理后的第二图像映射至所述处理后的第一图像上。5.如权利要求1所述的屏幕损伤缺陷检测方法，其特征在于：所述待测屏幕为MicroLED屏幕或MiniLED屏幕，所述目标缺陷为BPR损伤缺陷，所述预设的目标缺陷特征阈值包括面积特征阈值和距离特征阈值，所述距离特征阈值为BPR损伤缺陷的中心点与待测屏幕的中心点间所允许的最大间距。6.如权利要求5所述的屏幕损伤缺陷检测方法，其特征在于，所述当检测到第一可疑缺陷区域的特征值大于预设的目标缺陷特征阈值时，则所述第一可疑缺陷区域为目标缺陷，包括：当检测到第一可疑缺陷区域的面积特征值大于面积特征阈值且第一可疑缺陷区域的距离特征值大于距离特征阈值时，所述第一可疑缺陷区域为目标缺陷；当检测到第一可疑缺陷区域的面积特征值小于或等于面积特征阈值或第一可疑缺陷2CN114264669A权利要求书2/2页区域的距离特征值小于或等于距离特征阈值时，所述第一可疑缺陷区域为非目标缺陷。7.如权利要求1所述的屏幕损伤缺陷检测方法，其特征在于：所述视觉光源为同轴光源。8.一种屏幕损伤缺陷检测装置，其特征在于，包括：获取单元，其用于获取第一图像和第二图像，所述第一图像为待测屏幕在视觉光源下被拍摄的图像，所述第二图像为待测屏幕自发光后被拍摄的图像；处