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(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN113885691A(43)申请公布日2022.01.04(21)申请号202111157365.1(22)申请日2021.09.30(71)申请人上海商汤阡誓科技有限公司地址201103上海市徐汇区虹梅路1900号6楼6-78单元(72)发明人王勇丁雨(74)专利代理机构北京中知恒瑞知识产权代理事务所(普通合伙)11889代理人吴迪(51)Int.Cl.G06F1/3206(2019.01)权利要求书2页说明书15页附图5页(54)发明名称芯片功耗调整、神经网络训练方法、装置以及芯片系统(57)摘要本公开提供了一种芯片功耗调整、神经网络训练方法、装置以及芯片系统,其中,该方法包括:获取所述芯片系统的芯片测试信息;所述芯片测试信息用于指示每个芯片中所包含的每个处理核的运行状态;在基于所述芯片测试信息确定所述芯片系统存在冗余元件的情况下,确定所述芯片系统针对所述冗余元件的待分配功耗;所述冗余元件包含:冗余芯片和/或冗余处理核;基于所述待分配功耗调整所述芯片系统中目标元件的工作参数,以调整所述目标元件的功耗;所述目标元件为所述芯片系统中除冗余元件之外的部分或者全部元件。CN113885691ACN113885691A权利要求书1/2页1.一种芯片功耗调整方法,其特征在于,应用于包含至少一个芯片的芯片系统,每个芯片包含至少一个处理核,包括:获取所述芯片系统的芯片测试信息;所述芯片测试信息用于指示每个芯片中所包含的每个处理核的运行状态;在基于所述芯片测试信息确定所述芯片系统存在冗余元件的情况下,确定所述芯片系统针对所述冗余元件的待分配功耗;所述冗余元件包含:冗余芯片和/或冗余处理核;基于所述待分配功耗调整所述芯片系统中目标元件的工作参数,以调整所述目标元件的功耗;所述目标元件为所述芯片系统中除冗余元件之外的部分或者全部元件。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取所述芯片系统的芯片测试信息,包括以下至少之一:在检测到所述芯片系统每次执行上电操作的过程中,在所述芯片系统的存储器中读取所述芯片测试信息;在检测到当前时刻达到所述芯片系统的预设检测时刻的情况下,在所述芯片系统的存储器中读取所述芯片测试信息;在检测到针对所述芯片系统的存储器的修改操作的情况下,在所述芯片系统的存储器中读取所述芯片测试信息。3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述待分配功耗调整所述芯片系统中目标元件的工作参数,包括:获取所述芯片系统中第一剩余元件的元件优先级;所述第一剩余元件为所述芯片系统中除所述冗余元件之外的剩余芯片和/或剩余处理核;基于所述元件优先级,在所述第一剩余元件中确定所述目标元件,并基于所述待分配功耗调整所述目标元件的工作参数,其中,所述工作参数包含:工作电压和/或工作频率。4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述待分配功耗调整所述芯片系统中目标元件的工作参数,包括:获取所述目标元件的功耗约束信息;基于所述功耗约束信息和所述待分配功耗,调整所述目标元件的工作参数。5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述基于所述功耗约束信息和所述待分配功耗,调整所述目标元件的工作参数,包括:获取所述芯片系统中预先设定的所述目标元件的工作参数的调整范围;所述调整范围用于指示所述芯片系统中各个芯片和各个处理核处于正常工作状态下的工作参数的调整范围;在所述调整范围内,基于所述功耗约束信息调整所述目标元件的工作参数,以在所述待分配功耗中为所述目标元件分配相应的功耗。6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述调整范围为基于第一范围和第二范围确定的,所述第一范围为基于所述目标元件的标准工作参数确定的所述目标元件处于正常运行状态下的工作参数的参数范围,所述第二范围为基于所述目标元件的调整工作参数确定的所述目标元件处于正常运行状态下的工作参数的参数范围,所述调整工作参数为基于预设调整数值对工作参数进行调整之后的参数。7.根据权利要求1至6中任一项所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:2CN113885691A权利要求书2/2页在基于所述芯片测试信息确定所述芯片系统存在冗余元件的情况下,生成时钟关闭指令,以通过所述时钟关闭指令关闭所述芯片系统中与所述冗余元件相对应的时钟电路。8.根据权利要求1至7中任一项所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:在所述芯片系统的工作过程中,按照预设检查周期检查所述芯片系统中处于异常工作元件,其中,所述异常工作元件包含处于异常工作状态的芯片和/或处理核;在检查到所述异常工作元件的情况下,更新所述芯片测试信息,并调整所述芯片系统中除所述冗余元件和所述异常工作元件之外的第二剩余元件的工作参数。9.一种神经网络训练方法,其特征在于,包括: