CPU功耗测试设备、方法、系统、控制芯片及测试芯片.pdf

(19)国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN115827349A(43)申请公布日2023.03.21(21)申请号202211468895.2(51)Int.Cl.(22)申请日2022.11.22G06F11/22(2006.01)G06F11/263(2006.01)(71)申请人北京智芯微电子科技有限公司G06F11/30(2006.01)地址100192北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园A区3号楼申请人武汉大学国网宁夏电力有限公司营销服务中心（国网宁夏电力有限公司计量中心）国家电网有限公司(72)发明人刘亮唐明张茜歌胡玄宇张尧李雷陈琦刘朋远丁海丽(74)专利代理机构北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)11201专利代理师季永杰权利要求书3页说明书10页附图6页(54)发明名称CPU功耗测试设备、方法、系统、控制芯片及测试芯片(57)摘要本说明书公开了一种CPU功耗测试设备、方法、系统、控制芯片及测试芯片。首先，通过利用控制芯片的第一片内总线、第一通用输入输出控制器、片间总线、测试芯片的第二片内总线建立控制用CPU和测试芯片的第二存储单元之间的连接，接着，利用控制用CPU从控制芯片的第一存储单元中读取测试程序，且控制用CPU可以通过第一通用输入输出控制器和所述片间总线将读取到的测试程序写入至测试芯片的第二存储单元，实现针对CPU的功耗测试所需的快速方便的测试平台的构建，提升了测试平台重复使用性和广泛适配性。CN115827349ACN115827349A权利要求书1/3页1.一种CPU功耗测试设备，其特征在于，所述设备包括：控制芯片，包括第一片内总线、第一存储单元和第一通用输入输出控制器；所述第一存储单元、所述第一通用输入输出控制器分别通过所述第一片内总线与控制用CPU连接；片间总线，所述片间总线的一端连接于所述第一通用输入输出控制器；测试芯片，包括与所述片间总线的另一端连接的第二片内总线、与所述第二片内总线连接的第二存储单元；其中，所述控制用CPU从所述第一存储单元中读取存储的用于测试待测CPU的测试程序，通过所述第一通用输入输出控制器和所述片间总线，所述控制用CPU将所述测试程序写入至所述第二存储单元。2.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述控制芯片具有第一CPU插槽，所述第一CPU插槽用于放置所述控制用CPU；和/或所述测试芯片具有第二CPU插槽，所述第二CPU插槽用于放置所述待测CPU。3.根据权利要求2所述的设备，其特征在于，在所述测试芯片的第二CPU插槽中待测CPU发生更换时，更换后的待测CPU通过所述片间总线以及所述第一通用输入输出控制器与所述控制芯片建立连接。4.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述第一通用输入输出控制器的数量为4个。5.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述控制芯片还包括第一串口通信控制器，所述第一串口通信控制器用于与上位机通信，接收所述上位机发送的所述测试程序，以通过所述控制用CPU写入所述第一存储单元。6.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述控制芯片还包括若干第一分线器，所述若干第一分线器包括第一主干分线器和第一分支分线器；所述第一主干分线器连接于所述控制用CPU；所述第一分支分线器连接于所述第一主干分线器；所述第一分支分线器用于连接外设。7.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述测试芯片还包括连接于所述片间总线的另一端的跨芯片传输控制器、通过所述第二片内总线与所述跨芯片传输控制器连接的总线集线器，所述总线集线器通过所述第二片内总线连接有所述第二存储单元。8.根据权利要求7所述的设备，其特征在于，所述测试芯片还包括若干第二分线器，所述若干第二分线器包括第二主干分线器和第二分支分线器；所述第二主干分线器连接于所述待测CPU；所述第二分支分线器连接于所述第二主干分线器；其中，与所述第二主干分线器相邻的第二分支分线器连接有所述总线集线器、第三存储单元。9.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述测试芯片还包括与所述待测CPU连接的第二串口通信控制器和/或第二通用输入输出口；所述第二串口通信控制器，用于与上位机通信连接；所述第二通用输入输出口，用于与所述上位机通信连接。10.一种CPU功耗测试方法，其特征在于，应用于包括控制芯片和测试芯片的测试平台中；所述控制芯片和所述测试芯片通过片间总线连接；控制芯片，包括第一片内总线、第一存储单元和第一通用输入输出控制器；所述方法包括：2CN115827349A权利要求书2/3页控制用CPU从所述控制芯片的第一存储单元中读取存储的用于测试待测CPU的测试程序；其中，所述第一存储单元、所述第一通用输入输出控制器分别通过所述控制芯片的第一片内总线与所述控制用CPU连接；通过所述控制芯片的第一通用输