一种芯片测试方法及装置.pdf

(19)国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN114994499A(43)申请公布日2022.09.02(21)申请号202210543048.1H04L69/06(2022.01)(22)申请日2022.05.18H04L69/22(2022.01)(71)申请人广芯微电子（广州）股份有限公司地址510555广东省广州市黄埔区(中新广州知识城)亿创街1号406房之227(72)发明人王锐陈志丹李建军莫军王亚波(74)专利代理机构广州三环专利商标代理有限公司44202专利代理师郭浩辉(51)Int.Cl.G01R31/28(2006.01)H04L67/01(2022.01)H04L67/125(2022.01)H04L69/00(2022.01)权利要求书2页说明书8页附图1页(54)发明名称一种芯片测试方法及装置(57)摘要本发明公开了一种芯片测试方法及装置，所述方法包括：实时监测第一服务器下发的数据；当监测到符合预设数据格式的命令数据时，对所述命令数据进行解析，提取第一命令；根据与待测芯片对应的通信协议将所述第一命令转化为对应的第一命令数据包并发送至所述待测芯片，以使所述待测芯片根据所述第一命令数据包执行对应操作。根据待测芯片选择对应的通信协议，将第一服务器发送的命令转化为待测芯片可接收的数据形式执行对应操作，无需开发FLASH操作的特定协议，也不需要引入特定的调试工具，可有效降低对盲封、快封及一些不具备JTAG调试接口的芯片进行测试的难度和成本，能够第一时间将芯片量产，缩短验证测试时间，为芯片的量产提供保障。CN114994499ACN114994499A权利要求书1/2页1.一种芯片测试方法，其特征在于，包括：实时监测第一服务器下发的数据；当监测到符合预设数据格式的命令数据时，对所述命令数据进行解析，提取第一命令；根据与待测芯片对应的通信协议将所述第一命令转化为对应的第一命令数据包并发送至所述待测芯片，以使所述待测芯片根据所述第一命令数据包执行对应操作。2.如权利要求1所述的一种芯片测试方法，其特征在于，所述实时监测第一服务器下发的数据，具体包括：与所述第一服务器通过UART进行通信；当接收到表示建立通信的标识数据时对所述第一服务器下发的数据进行实时监测。3.如权利要求1所述的一种芯片测试方法，其特征在于，所述当监测到符合预设数据格式的命令数据时，对所述命令数据进行解析，生成第一命令，具体包括：所述预设数据格式依次包括头标识、命令标识和数据长度；根据所述预设数据格式对所述命令数据进行解析；提取所述命令数据中命令标识的数据，生成所述第一命令。4.如权利要求1所述的一种芯片测试方法，其特征在于，所述根据与待测芯片对应的通信协议将所述第一命令转化为对应的第一命令数据包，具体包括：根据与所述待测芯片进行连接的接口，确定对应的通信协议；根据所述通信协议对应的数据格式对所述第一命令进行组包，生成所述第一命令数据包。5.如权利要求1所述的一种芯片测试方法，其特征在于，所述待测芯片根据所述第一命令数据包执行对应操作前，还包括：接收来自所述第一服务器发送的接口使能的命令数据；对所述接口使能的命令数据进行解析，提取接口使能命令；根据所述与待测芯片对应的通信协议将所述接口使能命令转化为对应的接口使能命令数据包；将所述接口使能命令数据包发送至所述待测芯片以使所述待测芯片的接口开启接收状态。6.一种芯片测试装置，其特征在于，包括：数据监测模块、命令提取模块和命令处理模块，具体为：所述数据监测模块用于实时监测第一服务器下发的数据；所述命令提取模块用于当监测到符合预设数据格式的命令数据时，对所述命令数据进行解析，提取第一命令；所述命令处理模块用于根据与待测芯片对应的通信协议将所述第一命令转化为对应的第一命令数据包并发送至所述待测芯片，以使所述待测芯片根据所述第一命令数据包执行对应操作。7.如权利要求6所述的一种芯片测试装置，其特征在于，所述数据监测模块用于实时监测第一服务器下发的数据，包括通信单元和监测单元，具体为：所述通信单元用于与所述第一服务器通过UART进行通信；所述监测单元用于当接收到表示建立通信的标识数据时对所述第一服务器下发的数2CN114994499A权利要求书2/2页据进行实时监测。8.如权利要求6所述的一种芯片测试装置，其特征在于，所述命令提取模块用于当监测到符合预设数据格式的命令数据时，对所述命令数据进行解析，提取第一命令，具体包括：所述预设数据格式依次包括头标识、命令标识和数据长度；根据所述预设数据格式对所述命令数据进行解析；提取所述命令数据中命令标识的数据，生成所述第一命令。9.如权利要求6所述的一种芯片测试装置，其特征在于，所述命令处理模块用于根据与待测芯片对应的通信协议将所述第一命令转化为对应的第一命