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一种测试芯片的方法及装置.pdf
2023-06-11
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波峻****99
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本发明公开了一种芯片测试方法及装置，所述方法包括：实时监测第一服务器下发的数据；当监测到符合预设数据格式的命令数据时，对所述命令数据进行解析，提取第一命令；根据与待测芯片对应的通信协议将所述第一命令转化为对应的第一命令数据包并发送至所述待测芯片，以使所述待测芯片根据所述第一命令数据包执行对应操作。根据待测芯片选择对应的通信协议，将第一服务器发送的命令转化为待测芯片可接收的数据形式执行对应操作，无需开发FLASH操作的特定协议，也不需要引入特定的调试工具，可有效降低对盲封、快封及一些不具备JTAG调试接口的
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