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芯片测试的方法和装置.pdf

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本申请提供了一种芯片测试的方法、装置、计算设备、计算机程序产品和计算机可读存储介质,涉及芯片技术领域。本申请实施例可以将从DUT获取的读数据与从数据管理单元中获取的写数据进行比对,以获得比较结果。本申请实施例通过数据管理单元实现数据比对,可以确保读数据与写数据的匹配度,使得比较结果能够反映DUT的读写能力,从而提高了芯片测试的效率。