芯片测试方法、装置、芯片测试机及存储介质.pdf
冬易****娘子
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芯片测试方法、装置、芯片测试机及存储介质.pdf
本申请提供一种芯片测试方法、装置、芯片测试机及存储介质,涉及芯片测试技术领域,该方法包括:确定芯片中时钟门控单元的目标使能端的目标寄存器;基于多个目标寄存器组合得到目标扫描链;通过目标扫描链上多个目标寄存器的设定值,生成目标使能信号;通过目标使能信号,控制时钟门控单元中目标使能端对应的目标时钟门控单元开启或关闭。本申请能够在生成目标扫描链的基础上,通过控制寄存器的值以控制芯片扫描测试模式下时钟门控单元的开启和关闭,降低了时钟门控单元的控制难度,有效地控制了时钟门控单元的开启比例,减少测试向量数量,提高测试
变异测试方法、装置、存储介质与芯片.pdf
本公开涉及一种变异测试方法、装置、存储介质与芯片,该方法运用至测试设备,包括:对协议消息集中至少一个字段的值进行变异,得到测试用例;将该测试用例转发至被测设备,该测试用例用于对该被测设备进行测试;在接收到该被测设备反馈的响应消息的情况下,根据该响应消息确定该被测设备是否异常,该响应消息是该被测设备采用该测试用例进行测试后产生的消息。使用本公开提出的变异测试方法,可以对被测设备进行测试,确定被测设备能否正常运行。
基站芯片的测试方法和装置、存储介质及电子装置.pdf
本发明公开了一种基站芯片的测试方法和装置、存储介质及电子装置,其中,上述方法包括:获取测试请求,其中,测试请求用于请求对基站芯片中的目标命令进行测试;响应测试请求,从基站芯片所包括的一个或者多个芯片进程中确定目标命令所属于的目标芯片进程,其中,每个芯片进程用于执行一个或者多个命令;获取目标芯片进程执行目标命令的执行信息作为目标命令的测试结果。采用上述技术方案,解决了相关技术中,测试基站芯片的效率较低等问题。
芯片设计方法、装置、芯片、电子设备及存储介质.pdf
本发明公开了一种芯片设计方法,应用于芯片设计技术领域,包括:获取目标领域内应用程序的行为特征的量化值,该行为特征表示该应用程序在通用处理器上运行的过程中表现出的行为特征;根据该行为特征的量化值,构建该目标领域的通用特征模型;基于芯片评估指标,优化该目标领域的通用特征模型,得到该目标领域的定制特征模型;根据该通用特征模型和该定制特征模型,设计该目标领域的芯片。本发明还公开了一种芯片设计装置、芯片、电子设备及存储介质,其区别于通用计算芯片和专用计算芯片的设计方法,面向特定领域的芯片设计,可兼顾高灵活性和高能量
芯片控温方法、装置、设备、存储介质及芯片封装模块.pdf
本申请提供了一种芯片控温方法、装置、设备、存储介质及芯片封装模块,本申请实施例可以接收所述温度感应器反馈的关于所述芯片的温度情况的目标温度数据,并可以基于所述目标温度数据,实时调整所述热电制冷器的功率,以控制所述热电制冷器的控温效果。本申请设计了一种利用具备温度感应器的芯片封装模块来实现对芯片的温度控制,可以使得芯片封装模板具备温度反馈功能,以便可以基于温度感应器反馈的数据及时调整所述芯片封装模块中的热电制冷器的功率,以此控制所述芯片正常工作所需要的温度环境。既可以改善芯片降温问题又可以降低制冷器对芯片封