用于待测设备的通用校准的方法和系统.pdf

(19)国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN115956208A(43)申请公布日2023.04.11(21)申请号202180050179.X(74)专利代理机构中国专利代理(香港)有限公(22)申请日2021.08.17司72001专利代理师黄涛吕传奇(30)优先权数据63/0667222020.08.17US(51)Int.Cl.G01R35/00(2006.01)(85)PCT国际申请进入国家阶段日2023.02.15(86)PCT国际申请的申请数据PCT/US2021/0463892021.08.17(87)PCT国际申请的公布数据WO2022/040244EN2022.02.24(71)申请人福禄克公司地址美国华盛顿州(72)发明人M·J·布朗权利要求书3页说明书21页附图18页(54)发明名称用于待测设备的通用校准的方法和系统(57)摘要本发明公开了方法和系统，方法和系统包括通用的设备不可知校准过程，其中由待测设备(DUT)输出的测量指示(或从其得出的校正指示或转换指示)可与用于待校准的任何类型的DUT的校准阈值进行比较。因此实现了完整、通用且可延展的校准过程，该校准过程能够相似地适应常规校准场景和复杂校准场景。不考虑该特定的待测设备，可为所有待校准设备生成共同统计值集合，并且可评估该共同统计值集合中的统计值以确定该DUT的校准状态。另外，本文所公开的方法和系统提供生成综合测量记录集合，该综合测量记录集合可例如根据允许对所执行的每一次测量进行逐步审核的标准包括一些或所有原始观察结果、计算、校正、转换、环境因子和测量结果。CN115956208ACN115956208A权利要求书1/3页1.一种用于校准设备的方法，包括：由处理器接收被配置为测量不同物理或电气属性的至少两个设备的标识；由所述处理器基于用于所述至少两个设备的相应校准规格和测量模型来确定用于所述至少两个设备的不同校准过程；由所述处理器应用设备不可知评估过程以评估用于所述至少两个设备的所述不同校准过程的输出，而不考虑所述至少两个设备的所述标识；以及由所述处理器输出指示所述至少两个设备的相应校准状态的相应校准指示符。2.根据权利要求1所述的方法，其中应用所述设备不可知评估过程包括：从所述至少两个设备中的待测设备(DUT)接收测量指示，其中所述测量指示表示所述DUT对具有校准阈值的物理或电气属性的测量结果；基于将校正因子应用于所述测量指示来确定校正指示；基于将转换因子应用于所述校正指示来确定转换指示；将测量函数应用于所述转换指示以确定输出量；以及基于所述输出量与所述校准阈值的比较来确定所述相应校准指示符中的至少一个校准指示符。3.根据权利要求2所述的方法，还包括：基于所述至少两个设备的所述标识，获得用于所述至少两个设备的所述相应校准规格和测量模型；基于用于所述DUT的所述相应校准规格来确定所述校准阈值、所述校正因子或所述转换因子；以及基于用于所述DUT的所述相应测量模型来确定所述测量函数。4.根据权利要求2所述的方法，还包括：当所述相应校准指示符中的所述一个校准指示符指示所述DUT未被校准时：确定用于所述DUT的校准因子；以及指导将所述校准因子应用于所述DUT，使得所述DUT被校准。5.根据权利要求2所述的方法，还包括：从用于所述DUT的所述相应校准规格获得所述校准阈值；以及指导将具有已知值的至少一个参数应用于所述DUT以供由所述DUT进行测量，从而产生所述测量指示。6.根据权利要求2所述的方法，还包括：从用于所述DUT的所述相应校准规格接收具有已知值的至少一个参数以供由所述DUT进行测量；以及确定所述校准阈值，其中所述校准阈值是等于或小于所述已知值的下限或者是等于或大于所述已知值的上限。7.根据权利要求2所述的方法，其中所述输出量与所述校准阈值的所述比较包括利用以下中的至少一者：直接测量比较、间接测量比较、比率测量比较、差分测量比较、传递测量比较或取代测量比较。8.根据权利要求2所述的方法，还包括：通过记录所述设备不可知评估过程中的所有应用值、测量指示、校正指示、转换指示、2CN115956208A权利要求书2/3页测量函数和输出量来实现所述设备不可知评估过程的审核。9.根据权利要求1所述的方法，还包括：由所述处理器接收用于耦接到所述至少两个设备中的待测设备(DUT)的部件的规格；以及由所述部件监测所述DUT的特性。10.根据权利要求1所述的方法，其中应用所述设备不可知评估过程包括：从所述至少两个设备中的待测设备(DUT)接收测量指示，其中所述测量指示表示所述DUT对物理或电气属性的测量结果；根据所述测量指示或根据使用所述测量指示而确定的校正指示或转换指示确定统计值集合；以及基于所述统计值集合中的一个或多个统计值与校准阈值的比较来确定所述