用于检查和校准组件的设备和方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN111505554A(43)申请公布日2020.08.07(21)申请号201911320492.1(22)申请日2019.12.19(30)优先权数据102018132940.72018.12.19DE(71)申请人TDK-迈克纳斯有限公司地址德国弗莱堡(72)发明人O·卡瓦莱茨M·科尔尼尔斯(74)专利代理机构北京市磐华律师事务所11336代理人初晓琳(51)Int.Cl.G01R35/00(2006.01)权利要求书2页说明书4页附图8页(54)发明名称用于检查和校准组件的设备和方法(57)摘要公开了一种用于检查和/或校准组件(30)的设备(10)。设备(10)包括具有用于接收至少一个组件(30)的模块(28)的样本保持器(20)、用于产生围绕模块(28)的磁场的至少一个磁场发生器(60a、60b、60c)、用于将回火介质供给至模块(25)的入口(40)，以及用于从模块(28)排出回火介质的出口(45)。CN111505554ACN111505554A权利要求书1/2页1.一种用于检查和/或校准组件(30)的设备(10)，包括：样本保持器(20)，所述样本保持器(20)具有用于接收至少一个组件(30)的模块(28)；至少一个磁场发生器(60a、60b、60c)，所述至少一个磁场发生器(60a、60b、60c)用于产生围绕所述模块(28)的磁场(45)；入口(40)，所述入口(40)用于将回火介质供给至所述模块(28)；以及出口(45)，所述出口(45)用于从所述模块(28)排出回火介质。2.根据权利要求1所述的设备(10)，其中所述样本保持器(20)具有用于将所述回火介质从所述入口(40)引导进入所述模块(28)的至少一个进入开口(22)，以及所述回火介质从所述模块(28)至所述出口(45)的至少一个排出开口(24)并且其中所述至少一个组件(30)布置在所述进入开口(22)与所述排出开口(24)之间。3.根据前述权利要求中任一项所述的设备(10)，其中所述样本保持器(20)由两个部分(20o、20u)组成，并且所述模块(29)中的空腔(25)或由所述两个部分(20o、20u)中的互相相对的凹部形成，或在所述两个部分(20o、20u)中的一个中形成。4.根据权利要求1至3中任一项所述的设备(10)，还包括用于将所述样本保持器(20)的所述两个部分压在一起的可移动元件。5.根据前述权利要求中任一项所述的设备(10)，其中所述入口(40)和所述出口(45)布置为使得所述样本保持器(20)可以定位在所述入口(40)与所述出口(45)之间。6.根据前述权利要求中任一项所述的设备(10)，其中所述磁场发生器(60a、60b、60c)包括多个线圈。7.根据权利要求6所述的设备(10)，其中所述线圈(60a、60b、60c)彼此正交地布置。8.根据前述权利要求中任一项所述的设备(10)，其中所述磁场发生器(60a、60b、60c)构建为亥姆霍兹线圈系统的类型，并且所产生的磁场大部分是均匀的。9.根据权利要求6至8中任一项所述的设备(10)，其中所述磁场发生器(60a、60b、60c)包括围绕所述模块(28)的多个线圈对(60a、60b、60c)。10.根据权利要求6至9中任一项所述的设备(10)，其中所述至少一个组件(30)布置在所述线圈(60a、60b、60c)的轴线的共同的交点(15)上/周围。11.根据权利要求1至10中任一项所述的设备(10)，其中所述样本保持器(20)具有用于接触所述组件(30)的多个连接元件(26)。12.根据权利要求11所述的设备(10)，还包括用于接触所述样本保持器(20)的多个可移动接触销。13.根据前述权利要求中任一项所述的设备，其中所述样本保持器(20)具有将所述回火介质引导为围绕所述组件(30)的引导通道(27)。14.根据前述权利要求中任一项所述的设备(10)，其中所述至少一个组件(30)具有接触线缆，所述回火介质围绕所述接触线缆流动。15.根据前述权利要求中任一项所述的设备(10)，还包括用于控制所述回火介质的温度的控制装置。16.一种用于检查和校准设备(10)中的组件(30)的方法，包括：在磁场中引入(810)具有安装在空腔(25)中的组件(30)的样本保持器(20)；将入口(40)附接(820)至所述样本保持器(20)中的进入开口(22)；2CN111505554A权利要求书2/2页将出口(45)附接(820)至所述样本保持器(20)中的排出开口(24)；激励(840)所述空腔(25)中的所述组件(30)。17.根据权利要求16所述的方法，包括：改变环境参数。18.根据权利要求16或17所述的方法，还包括：接触(