陶瓷体的缺陷检查装置及缺陷检查方法.pdf

(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号CN112041668A(43)申请公布日2020.12.04(21)申请号201980026642.X(74)专利代理机构北京旭知行专利代理事务所(22)申请日2019.03.20(普通合伙)11432代理人王轶郑雪娜(30)优先权数据2018-0894082018.05.07JP(51)Int.Cl.G01N21/95(2006.01)(85)PCT国际申请进入国家阶段日2020.10.19(86)PCT国际申请的申请数据PCT/JP2019/0116962019.03.20(87)PCT国际申请的公布数据WO2019/216031JA2019.11.14(71)申请人日本碍子株式会社地址日本国爱知县(72)发明人寺拝贵史水谷彰宏权利要求书5页说明书29页附图24页(54)发明名称陶瓷体的缺陷检查装置及缺陷检查方法(57)摘要本发明实现可靠且高效地检测出蜂窝结构体的端面所存在的缺陷并抑制通常的表面凹凸的误检测。在拍摄部的周围，将低角度、中角度及高角度照明部各自以呈不同的照明角度的形态具有的多个单元照明依次点亮及熄灭，该多个单元照明从彼此等角度间隔的不同照射方向分别向检查对象区域倾斜地照射照明光，每当多个单元照明分别点亮时，拍摄部进行所述拍摄区域的拍摄，判定用图像生成部基于与各照明部的照射角度相对应的3种拍摄数据的最大亮度图像数据及最小亮度图像数据中的至少1个来确定检查除外区域，然后，基于最小亮度图像数据，以拍摄区域中的检查除外区域以外的区域为对象，生成判定有无缺陷的判定用图像数据，缺陷判定部基于判定用图像数据，判定有无缺陷。CN112041668ACN112041668A权利要求书1/5页1.一种陶瓷体的缺陷检查装置，其是检查陶瓷体的外表面有无缺陷的装置，所述陶瓷体的缺陷检查装置的特征在于，具备：工作台，该工作台供作为检查对象的陶瓷体载放；拍摄部，该拍摄部将载放于所述工作台的所述陶瓷体的检查对象面的至少一部分作为拍摄区域，从所述检查对象面的法线方向进行拍摄；低角度照明部、中角度照明部及高角度照明部，这些照明部各自具有4个以上的多个单元照明，该多个单元照明在所述拍摄部的周围从彼此等角度间隔的不同照射方向分别向所述拍摄区域倾斜地照射照明光；判定用图像生成部，该判定用图像生成部基于由所述拍摄部取得的拍摄数据而生成用于判定在所述拍摄区域中有无缺陷的判定用图像数据；以及缺陷判定部，该缺陷判定部基于所述判定用图像数据而判定有无缺陷，所述低角度照明部具有的所述多个单元照明的照射角度θ0为5°～30°，所述中角度照明部具有的所述多个单元照明的照射角度θ1为30°～60°，所述高角度照明部具有的所述多个单元照明的照射角度θ2为60°～85°，θ0、θ1及θ2的值彼此不同，在所述低角度照明部、所述中角度照明部及所述高角度照明部分别依次将所述多个单元照明点亮及熄灭，每当所述低角度照明部、所述中角度照明部及所述高角度照明部各自的所述多个单元照明点亮时，所述拍摄部进行所述拍摄区域的拍摄，由此生成多个低角度照明时拍摄数据、多个中角度照明时拍摄数据及多个高角度照明时拍摄数据，所述判定用图像生成部具备：最大/最小亮度图像生成部，该最大/最小亮度图像生成部将所述多个低角度照明时拍摄数据、所述多个中角度照明时拍摄数据及所述多个高角度照明时拍摄数据分别按关于各像素位置的最大亮度值成为关于该像素位置的亮度值的方式进行合成来生成低角度最大亮度图像数据、中角度最大亮度图像数据及高角度最大亮度图像数据，并且，按关于各像素位置的最小亮度值成为关于该像素位置的亮度值的方式进行合成来生成低角度最小亮度图像数据、中角度最小亮度图像数据及高角度最小亮度图像数据；以及除外区域确定部，该除外区域确定部基于所述低角度最大亮度图像数据、所述中角度最大亮度图像数据、所述高角度最大亮度图像数据、所述低角度最小亮度图像数据、所述中角度最小亮度图像数据及所述高角度最小亮度图像数据中的至少1个，确定由所述低角度最小亮度图像数据、所述中角度最小亮度图像数据及所述高角度最小亮度图像数据所分别表示的图像中的除外对象像素区域，所述除外对象像素区域相当于所述拍摄区域中包含的检查对象外的区域，基于对所述除外对象像素区域进行去功能化后的所述低角度最小亮度图像数据、所述中角度最小亮度图像数据及所述高角度最小亮度图像数据，分别生成低角度判定用图像数据、中角度判定用图像数据及高角度判定用图像数据，作为所述判定用图像数据，所述缺陷判定部基于所述低角度判定用图像数据、所述中角度判定用图像数据及所述高角度判定用图像数据，判定在所述除外对象像素区域以外的所述拍摄区域中有无缺陷。2.根据权利要求1所述的陶瓷体的缺陷检查装置，其特征在于，2CN11204