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本发明提供一种能够检测出光学特性的不均的缺陷检查方法。所述缺陷检查方法具有:配置工序,依次地并且满足下述的条件a1及条件a2地配置第1滤光片、光学膜、第2滤光片:(a1)所述第1滤光片的第1偏振片的吸收轴与所述被检偏振片的吸收轴所成的角度θ1为90°±5°的范围内,(a2)所述被检偏振片的吸收轴与所述第2滤光片的第2偏振片的吸收轴所成的角度θ2为90°±35°的范围内;检测工序,检测从光源照射、并依次透过所述第1滤光片、所述光学膜以及所述第2滤光片的光;以及判断工序,基于所述检测工序中的检测结果,判断所述光学膜的缺陷。