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(19)中华人民共和国国家知识产权局*CN103236476A*(12)发明专利申请(10)申请公布号(10)申请公布号CNCN103236476103236476A(43)申请公布日2013.08.07(21)申请号201310121736.X(22)申请日2013.04.09(71)申请人湘能华磊光电股份有限公司地址423038湖南省郴州市白露塘有色金属产业园(72)发明人刘为刚苗振林周佐华(74)专利代理机构北京聿宏知识产权代理有限公司11372代理人吴大建郑隽(51)Int.Cl.H01L33/02(2010.01)H01L33/00(2010.01)权权利要求书1页利要求书1页说明书5页说明书5页附图1页附图1页(54)发明名称一种生长外延片及其制备方法(57)摘要本发明提供了一种生长外延片的制备方法,包括步骤:在100nm的N型铝镓氮生长时,获取第一温度,所述第一温度为N型铝镓氮的生长温度;计算温差,将有源层生长温度调整为第二温度,所述第二温度为正常生长的炉次标准温度设定的原有源层生长温度与温差的和;升高温度至710℃-820℃,生长掺铟的氮化镓阱层,升高温度至850℃-1000℃生长掺杂氮化镓垒层,形成有源层。本发明监控N型铝镓氮生长时的基底表面温度,分析出调整波长的幅度,调整有源层的温度,从而达到控制波长的目的,提高芯片波长的良率。CN103236476ACN1032647ACN103236476A权利要求书1/1页1.一种生长外延片的制备方法,其特征在于,包括步骤:A、在100nm的N型铝镓氮生长时,获取第一温度,所述第一温度为N型铝镓氮的本炉次生长温度;B、计算温差,所述温差为所述第一温度与上炉次的N型铝镓氮生长温度的差值的一半;C、将有源层生长温度调整为第二温度,所述第二温度为正常生长的炉次标准温度与温差的和;D、升高温度至710℃-820℃,生长掺铟的氮化镓阱层,升高温度至850℃-1000℃生长掺杂氮化镓垒层,形成有源层。2.根据权利要求1所述的一种生长外延片的制备方法,其特征在于,在步骤D之后包括:完成有源层的生长后,温度调节到950℃,持续生长0.2-0.4μm的P型氮化镓层。3.根据权利要求2所述的一种生长外延片的制备方法,其特征在于,在步骤A之前包括:a、以高纯的H2作为载气,在压力为100Torr,1050℃的氢气气氛下高温处理蓝宝石衬底10分钟。4.根据权利要求1所述的一种生长外延片的制备方法,其特征在于,采用温度监控系统获取第一温度。5.根据权利要求4所述的一种生长外延片的制备方法,其特征在于,温度监控系统是RT探测头。6.根据权利要求3至5任一项所述的一种生长外延片的制备方法,其特征在于,在步骤a后,步骤A之前包括:将温度降至550℃,在蓝宝石衬底上生长厚度为35nm的低温缓冲氮化镓层,并进一步将温度升高至1000℃,持续生长2.0μm的无掺杂氮化镓层;将温度升高至1050℃,持续生长2.0μm的N型氮化镓层,形成N型氮化镓层;将温度降到1000℃,生长100nm的N型铝镓氮。7.根据权利要求3至5任一项所述的一种生长外延片的制备方法,其特征在于,当生长有源层时,温度控制方式为监测外延片表面温度的控温方式。8.一种根据权利要求1-7任一项所述制备方法制得的机型生长外延片,其特征在于,自下而上结构依次为衬底、不掺杂氮化镓层、第一N型氮化镓层、N型铝镓氮、第二N型氮化镓层、有源层、P型氮镓层。9.根据权利要求8所述的一种机型生长外延片,其特征在于,N型铝镓氮生长在N型氮化镓层中间。2CN103236476A说明书1/5页一种生长外延片及其制备方法技术领域[0001]本发明涉及LED芯片制备领域,特别地,涉及一种生长外延片及其制备方法。背景技术[0002]随着LED行业的迅猛发展,市场对于LED芯片的要求也随之提高,除了各项电性参数外,波长的集中度成为客户重视的首要参数。波长控制的良率是目前的技术难题,波长控制不好导致产品报废率偏高、生产成本升高等问题。[0003]目前常用的调整波长的方法是:监控本炉次有源层温度情况,通过机台波长与有源层温度对应关系来调整波长,从而达到控制波长良率的目的。例如:基础炉次的波长正常,则以基础炉次的有源层温度为中心波长的标准温度。[0004]但由于衬底表面的规格和粗糙度对有源层温度的监控有一定的影响,容易使得有源层的温度监控造成偏差,就必然会影响到有源层波长的调整效果,导致调整波长时也出现偏差,波长良率的稳定性则出现波动。所以如何调整波长,控制波长良率的稳定性技术越来越受到人们的关注。发明内容[0005]本发明目的在于提供一种生长外延片的制备方法,以解决芯片波长的控制良率过低的技术问题。[0006]为实现上述目的,本发明提供了一种生长外延片的制备方法,包括步骤: