

用于负型抗蚀剂的可显影底部抗反射涂料组合物.pdf
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相关资料
用于负型抗蚀剂的可显影底部抗反射涂料组合物.pdf
一种负型可显影底部抗反射涂料(NDBARC)材料包括聚合物,该聚合物含有脂肪族醇部分、芳香族部分以及羧酸部分。NDBARC组合物在涂布及烘烤之后不溶于一般的光刻胶溶剂,如丙二醇甲基醚乙酸酯(PGMEA)。NDBARC材料也包括光酸产生剂以及选择性的交联化合物。在NDBARC材料中,羧酸提供显影剂溶解性,而醇单独、羧酸单独或其组合提供PGMEA抗性。NDBARC材料对光刻胶溶剂具有抗性,因此,在涂布光刻胶于NDBARC上方的过程中,NDBARC与光刻胶之间不会发生互混。在曝光及烘烤之后,由于负型光刻胶中的聚
负型抗蚀剂组合物.pdf
本发明的课题在于提供一种用于制造波长440nm的光的透射率高的滤色器的负型抗蚀剂组合物。本发明的负型抗蚀剂组合物包含着色剂和树脂,上述着色剂含有呫吨染料,由上述负型抗蚀剂组合物形成的固化膜的分光光谱满足下述条件1。[条件1]在波长范围500nm~580nm具有极大吸收波长,将该波长处的透射率设为5%时,波长440nm处的透射率为80%以上,且波长620nm处的透射率为80%以上。
可显影的底部抗反射涂层形成用组合物.pdf
本发明提供了一种底部抗反射涂层形成用组合物,并且还提供了一种采用所述组合物的光致抗蚀剂图案形成方法。所述组合物提供了在制造半导体器件的光刻工艺中使用的底部抗反射涂层,并且所述涂层可以使用光致抗蚀剂用显影液进行显影。所述组合物含有溶剂、具有稠合多环芳香族基团的聚合物以及具有马来酰亚胺衍生物或马来酸酐衍生物的化合物。所述组合物可以进一步含有光酸产生剂或交联剂。
化学增幅负型抗蚀剂组合物及抗蚀剂图案形成方法.pdf
本发明为化学增幅负型抗蚀剂组合物及抗蚀剂图案形成方法。提供了包含具有含桥接的环的基团的芳烃磺酸的鎓盐和基础聚合物的负型抗蚀剂组合物,该鎓盐能够产生具有适当的强度和扩散受控的大体积酸。当该抗蚀剂组合物通过光刻法处理时,形成具有高分辨率和降低的LER的矩形轮廓的点图案。
抗反射光致抗蚀剂组合物.pdf
本发明涉及用于光致抗蚀剂层的抗反射涂料组合物,其包含聚合物,交联剂和酸产生剂,其中聚合物包含至少一个结构1单元,(结构式I)(I)其中,X是连接部分,其选自非芳族的(A)组成部分,芳族(P)组成部分及其混合物,R′是结构(2)的基团,R″独立地选自氢,结构(2)的组成部分,Z以及W-OH,其中Z是(C1-C20)烃基组成部分以及W是(C1-C20)亚烃基连接部分,以及,Y′独立地是(C1-C20)亚烃基连接部分,其中结构(2)是(结构式II)(II)其中R1以及R2独立地选自H以及C1-C4烷基以及L是有